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1. (WO2015119068) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'ANALYSE DE BALAYAGE DE LONGUEUR D'ONDE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/119068    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/052802
Date de publication : 13.08.2015 Date de dépôt international : 02.02.2015
CIB :
G01N 21/359 (2014.01)
Déposants : NIKKISO CO., LTD. [JP/JP]; 4-20-3, Ebisu, Shibuya-ku, Tokyo 1506022 (JP)
Inventeurs : FUJIWARA Masato; (JP).
LU Rongfu; (JP).
WATANABE Atsuo; (JP)
Mandataire : YKI PATENT ATTORNEYS; 1-34-12, Kichijoji-Honcho, Musashino-shi, Tokyo 1800004 (JP)
Données relatives à la priorité :
2014-019750 04.02.2014 JP
Titre (EN) WAVELENGTH SCANNING ANALYSIS DEVICE AND METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'ANALYSE DE BALAYAGE DE LONGUEUR D'ONDE
(JA) 波長走査式分析装置及び方法
Abrégé : front page image
(EN)The present invention reliably eliminates the effect of measurement-disturbing components, improves the accuracy of measurement of components to be measured, and simultaneously measures a plurality of the components to be measured. Light from a light source is scanned in a specific scanning band by an interference filter (12) at a prescribed scanning frequency, and a sample liquid is irradiated with the light. Light that has passed through an optical cell (18) is converted by a light detector (20) into an electrical signal. To simultaneously quantify a plurality of types of the components to be measured that are contained in a sample, a processing device (22) uses: the strength of a plurality of harmonic components that have been obtained by performing fast Fourier transform on and computing the signal; and the correspondence relation between the plurality of types of components to be measured and the strength of the plurality of harmonic components, said correspondence relation having been measured in advance and stored in a memory.
(FR)La présente invention permet d'éviter de manière fiable l'effet des composants perturbateurs de mesure, d'améliorer la précision de mesure de composantes à mesurer, et de mesurer simultanément une pluralité de composantes à mesurer. La lumière provenant d'une source lumineuse est balayée dans une bande de balayage spécifique par un filtre d'interférence (12) à une fréquence de balayage prescrite, et un liquide échantillon est irradié avec la lumière. La lumière qui a traversé une cellule optique (18) est convertie par un détecteur de lumière (20) en un signal électrique. Pour quantifier simultanément une pluralité de types des composantes à mesurer qui sont contenus dans un échantillon, un dispositif de traitement (22) utilise : l'intensité d'une pluralité de composantes harmoniques qui ont été obtenues en exécutant une transformation de Fourier rapide sur le signal et en calculant ce dernier ; et la relation de correspondance entre la pluralité de types de composantes à mesurer et l'intensité de la pluralité de composantes harmoniques, ladite relation de correspondance ayant été mesurée à l'avance et stockée dans une mémoire.
(JA) 測定妨害成分の影響を確実に排除し、測定対象成分の測定精度を向上させ、かつ複数の測定対象成分を同時に測定する。干渉フィルタ12で所定の走査周波数で光源からの光を特定の走査帯域において走査し、試料液に照射する。光学セル18を透過した光を光検出器20で電気信号に変換する。処理装置22は、信号を高速フーリエ変換し、演算して得られた複数の高調波成分の強度と、予め測定されてメモリに記憶された、複数種類の測定対象成分の各々と複数の高調波成分の強度との対応関係を用いて試料中に含有される複数種類の測定対象成分を同時に定量する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)