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1. (WO2015116736) APPROCHE DFT POUR PERMETTRE UN DIAGNOSTIC PLUS RAPIDE D'UNE CHAÎNE DE BALAYAGE

Pub. No.:    WO/2015/116736    International Application No.:    PCT/US2015/013378
Publication Date: Fri Aug 07 01:59:59 CEST 2015 International Filing Date: Thu Jan 29 00:59:59 CET 2015
IPC: G01R 31/28
H03K 19/00
Applicants: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED
TEXAS INSTRUMENTS JAPAN LIMITED
Inventors: MITTAL, Rajesh, Kumar
KURIAN, Charles
PODDUTUR, Sumanth, Reddy
Title: APPROCHE DFT POUR PERMETTRE UN DIAGNOSTIC PLUS RAPIDE D'UNE CHAÎNE DE BALAYAGE
Abstract:
Dans les exemples décrits, l'invention porte sur un circuit (100) qui facilite un diagnostic plus rapide d'une pluralité de circuits logiques (135) reliés dans une chaîne de balayage. Le circuit (100) comprend un premier multiplexeur (105) qui reçoit une entrée de données de balayage (110). Une bascule bistable (125) est couplée à une sortie du premier multiplexeur (105) et génère un diagramme de balayage. Un inverseur (145) génère un signal de contre-réaction inversé (115) en réponse au diagramme de balayage. Le signal de contre-réaction inversé (115) est fourni au premier multiplexeur (105). La pluralité de circuits logiques (135) sont reliés à la chaîne de balayage et génèrent une sortie logique en réponse au diagramme de balayage. Un multiplexeur de dérivation (142) est couplé à la pluralité de circuits logiques (135). Le multiplexeur de dérivation (142) génère une sortie de balayage (SO) en réponse à la sortie logique, l'entrée de données de balayage (110) et une entrée de dérivation de segment (112).