WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2015113658) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR ACQUERIR ET TRAITER DES DIAGRAMMES DE DIFFRACTION ISSUS D'UN EQUIPEMENT METTANT EN OEUVRE UN FAISCEAU DE PARTICULES FOCALISEES, ET SYSTEME D'IMAGERIE ANALYTIQUE INTEGRANT CE DISPOSITIF
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/113658    N° de la demande internationale :    PCT/EP2014/071392
Date de publication : 06.08.2015 Date de dépôt international : 07.10.2014
CIB :
G01N 23/225 (2006.01), H01J 37/26 (2006.01), G02B 26/08 (2006.01), G01T 1/20 (2006.01)
Déposants : NEWTEC SCIENTIFIC [FR/FR]; 285 rue Gilles Roberval Bâtiment A2 F-30900 Nimes (FR)
Inventeurs : MENARD, Jean-Claude; (FR)
Mandataire : PONTET ALLANO & ASSOCIES; Parc Les Algorithmes, Bâtiment Platon CS 70003 Saint-Aubin F-91192 Gif sur Yvette cedex (FR)
Données relatives à la priorité :
1450730 30.01.2014 FR
Titre (EN) METHOD AND DEVICE FOR ACQUIRING AND PROCESSING DIFFRACTION DIAGRAMS FROM A PIECE OF EQUIPMENT WHICH USES A FOCUSED-PARTICLE BEAM, AND AN ANALYTICAL IMAGING SYSTEM INCLUDING SAID DEVICE
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR ACQUERIR ET TRAITER DES DIAGRAMMES DE DIFFRACTION ISSUS D'UN EQUIPEMENT METTANT EN OEUVRE UN FAISCEAU DE PARTICULES FOCALISEES, ET SYSTEME D'IMAGERIE ANALYTIQUE INTEGRANT CE DISPOSITIF
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to a method for processing diffraction diagrams from a piece of equipment which uses a focused-particle beam, said diffraction diagrams being generated by a particle-photon converter screen (1), which method comprises (i) selectively transmitting, to a photodetector and by means of a spatial light modulator (20), light emitted from said converter screen (1) in at least one selected region, said light having a photonic intensity which is representative of diffractive properties of the material in said selected region, (ii) detecting, by means of said photodetector, a photonic intensity which is representative of the light transmitted by said spatial light modulator (20), and (iii) programming said spatial light modulator (20) according to a filter diagram (DF) to produce a spatial filtering function for the light from said converter screen (1).
(FR)La présente invention concerne un procédé pour traiter des diagrammes de diffraction issus d'un équipement mettant en œuvre un faisceau de particules focalisées, lesquels diagrammes de diffraction étant générés par un écran convertisseur particules-photons (1), qui comprend (i) une transmission sélective vers un photo-détecteur, au moyen d'un modulateur spatial de lumière (20), de la lumière émise depuis ledit écran convertisseur (1) dans au moins une zone sélectionnée, laquelle lumière ayant une intensité photonique représentative des caractéristiques de diffraction du matériau dans ladite zone sélectionnée, (ii) une détection, au moyen dudit photo-détecteur, d'une intensité photonique représentative de la lumière transmise par ledit modulateur spatial de lumière (20), et (iii) une programmation dudit modulateur spatial de lumière (20) selon un diagramme filtre (DF) pour réaliser une fonction de filtrage spatial de la lumière issue dudit écran convertisseur (1).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : français (FR)
Langue de dépôt : français (FR)