WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2015112692) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE NIVELLEMENT LASER AJUSTABLE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/112692    N° de la demande internationale :    PCT/US2015/012425
Date de publication : 30.07.2015 Date de dépôt international : 22.01.2015
CIB :
G01C 9/02 (2006.01), G01C 9/18 (2006.01), G01C 5/00 (2006.01), G01S 17/88 (2006.01)
Déposants : HILL, Jayson [US/US]; (US)
Inventeurs : HILL, Jayson; (US)
Mandataire : ARNEY, Neil L.; (US)
Données relatives à la priorité :
61/930,645 23.01.2014 US
62/049,241 11.09.2014 US
Titre (EN) ADJUSTABLE LASER LEVELING DEVICE AND METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE NIVELLEMENT LASER AJUSTABLE
Abrégé : front page image
(EN)A device and method for determining level planes using one or more lasers. The device may include a single base or a plurality of bases that allow lasers to be attached to project laser lines across a work surface. The device also may include notches to insert and connect a measuring device at a center of a base to facilitate accurate measurements and markings along the projected laser lines.
(FR)La présente invention concerne un dispositif et un procédé de détermination de plans de niveau à l'aide d'un ou de plusieurs lasers. Le dispositif peut comprendre une seule base ou une pluralité de bases qui permettent une fixation des lasers de sorte à projeter des raies laser sur une surface de travail. Le dispositif peut également comprendre des encoches permettant d'insérer et de connecter un dispositif de mesure au centre d'une base de sorte à faciliter des mesures et des repères précis le long des raies laser projetées.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)