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1. (WO2015112477) CONCEPTION DE FLEXION D'IMPÉDANCE ÉCHELONNÉE DANS UN LECTEUR DE DISQUE DUR
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/112477    N° de la demande internationale :    PCT/US2015/011987
Date de publication : 30.07.2015 Date de dépôt international : 20.01.2015
CIB :
G11B 5/48 (2006.01)
Déposants : HUTCHINSON TECHNOLOGY INCORPORATED [US/US]; 40 West Highland Park Drive N.E. Hutchinson, Minnesota 55350-9784 (US)
Inventeurs : ROEN, Michael E.; (US)
Mandataire : SHERBURNE, Paul S.; (US)
Données relatives à la priorité :
14/163,279 24.01.2014 US
Titre (EN) STEPPED IMPEDANCE FLEXURE DESIGN IN A HARD DISK DRIVE
(FR) CONCEPTION DE FLEXION D'IMPÉDANCE ÉCHELONNÉE DANS UN LECTEUR DE DISQUE DUR
Abrégé : front page image
(EN)Various embodiments concern a method for forming a trace array by modeling a trace array having a plurality of traces, each trace having a plurality of trace segments corresponding to elements of a filter circuit having alternating high and low impedance elements. The alternating high and low impedance elements can correspond to inductors and capacitors. For each trace segment, a delay constant is measured between a plurality of nodes that are longitudinally arrayed along the trace segment. The delay constant can be a phase delay. The length of each trace segment is set based on the delay constant of the trace segment. The length of each trace segment can be set such that the trace has a linear group delay response across an operational frequency range of the flexure. A trace array is then formed based on the set lengths.
(FR)Selon divers modes de réalisation, la présente invention concerne un procédé de formation d'un réseau de traces par modélisation d'un réseau de traces présentant une pluralité de traces, chaque trace comportant une pluralité de segments de trace correspondant à des éléments d'un circuit filtrant comprenant des éléments alternés à haute et à faible impédance. Les éléments alternés à haute et à faible impédance peuvent correspondre à des inducteurs et à des condensateurs. Pour chaque segment de trace, une constante de temporisation est mesurée entre une pluralité de nœuds qui sont agencés en réseau longitudinalement le long du segment de trace. La constante de temporisation peut consister en un temps de propagation de phase. La longueur de chaque segment de trace est définie sur la base de la constante de temporisation du segment de trace. La longueur de chaque segment de trace peut être définie de sorte que la trace présente une réponse de temporisation de groupe linéaire sur une plage de fréquences opérationnelles de la flexion. Un réseau de traces est ensuite formé sur la base des longueurs définies.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)