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1. (WO2015109612) DISPOSITIF PERMETTANT DE DÉTECTER LA PRÉSENCE D'UN ARTICLE DANS UNE CAVITÉ À HAUTE TEMPÉRATURE ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/109612    N° de la demande internationale :    PCT/CN2014/071842
Date de publication : 30.07.2015 Date de dépôt international : 30.01.2014
CIB :
G01V 8/12 (2006.01), G01V 9/00 (2006.01)
Déposants : SHENZHEN CHINA STAR OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD [CN/CN]; No.9-2,Tangming Road, Guangming New District Shenzhen, Guangdong 518132 (CN)
Inventeurs : WANG, Song; (CN)
Mandataire : GUANGDONG GUANGHE LAW FIRM; 20/F, Block A.World Trade Plaza FuHong Rd, Futian District Shenzhen, Guangdong 518033 (CN)
Données relatives à la priorité :
201410033542.9 23.01.2014 CN
Titre (EN) DEVICE FOR DETECTING THE EXISTENCE OF ARTICLE IN HIGH-TEMPERATURE CAVITY AND DETECTION METHOD
(FR) DISPOSITIF PERMETTANT DE DÉTECTER LA PRÉSENCE D'UN ARTICLE DANS UNE CAVITÉ À HAUTE TEMPÉRATURE ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION
(ZH) 一种在高温腔体中侦测物品存在的装置及侦测方法
Abrégé : front page image
(EN)A device for detecting the existence of an article in a high-temperature cavity (2), which is used for detecting the entry and exit of a glass substrate (3) in the high-temperature cavity (2). The detection device comprises a sensing probe and a detection element (12), wherein the sensing probe is disposed on a side wall of the high-temperature cavity (2) and comprises a fixed probe (10a) and a deflection probe (10b) which are located on the same straight line. When the glass substrate (3) enters the high-temperature cavity (2) and when the glass substrate (3) touches the deflection probe (10b), the deflection probe (10b) switches on the detection element (12), and then the detection element (12) sends out a sensing signal to represent that the glass substrate (3) has entered the high-temperature cavity (2). By means of the simple mechanical structure and the conventional detection element, whether the glass substrate (3) or other elements exist in a high-temperature apparatus can be judged in real time.
(FR)Un dispositif permettant de détecter la présence d'un article dans une cavité (2) à haute température est utilisé pour détecter l'entrée et la sortie d'un substrat en verre (3) dans la cavité (2) à haute température. Le dispositif de détection comprend une sonde de détection et un élément de détection (12), la sonde de détection étant disposée sur une paroi latérale de la cavité (2) à haute température et comprenant une sonde fixe (10a) et une sonde de déflexion (10b) qui sont situées sur la même ligne droite. Lorsque le substrat en verre (3) entre dans la cavité (2) à haute température et lorsque le substrat en verre (3) touche la sonde de déflexion (10b), la sonde de déflexion (10b) active l'élément de détection (12), puis l'élément de détection (12) envoie un signal de détection pour représenter le fait que le substrat en verre (3) est entré dans la cavité (2) à haute température. Au moyen de la structure mécanique simple et de l'élément de détection classique, il est possible d'évaluer en temps réel si le substrat en verre (3) ou d'autres éléments se trouvent dans un appareil à haute température.
(ZH)一种在高温腔体(2)中侦测物品存在的侦测装置,用于侦测玻璃基板(3)在高温腔体(2)中的进出,侦测装置包括感测探针和侦测元件(12),感测探针装配于高温腔体(2)的侧壁,其包括在同一直线上的固定探针(10a)和偏转探针(10b),当玻璃基板(3)进入高温腔体(2)内时,玻璃基板(3)触碰到偏转探针(10b)时,偏转探针(10b)接通侦测元件(12),则侦测元件(12)发出感应信号,以表征玻璃基板(3)进入高温腔体(2)内;通过简单的机械结构和常规的侦测元件,就可实时地判断玻璃基板(3)或其他元器件是否存在于高温设备中。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)