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1. (WO2015109222) TEST ET MESURE D'ERREUR SUR LES BITS DE MODULATION D'IMPULSIONS EN AMPLITUDE (PAM)
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/109222    N° de la demande internationale :    PCT/US2015/011807
Date de publication : 23.07.2015 Date de dépôt international : 16.01.2015
CIB :
H04L 1/24 (2006.01), G01R 31/317 (2006.01), H04L 1/20 (2006.01)
Déposants : TEKTRONIX, INC. [US/US]; 14150 SW Karl Braun Drive P.O. Box 500, M/S 50-LAW Beaverton, OR 97007-0001 (US)
Inventeurs : SCHOEN, Kipp, J.; (US).
ALLEN, Joseph, N.; (US)
Mandataire : JOHNSON, Alexander, C., Jr.; (US)
Données relatives à la priorité :
14/158,768 17.01.2014 US
Titre (EN) PULSE AMPLITUDE MODULATION (PAM) BIT ERROR TEST AND MEASUREMENT
(FR) TEST ET MESURE D'ERREUR SUR LES BITS DE MODULATION D'IMPULSIONS EN AMPLITUDE (PAM)
Abrégé : front page image
(EN)A method and apparatus are provided to detect a threshold-error of a multi-level signal-under-test. In one aspect of the disclosure, a digital test sequence may be used to produce the signal-under-test. In one aspect, the digital test sequence may be mapped to M binary reference sequences, wherein M is greater than one. In one aspect, each of the M binary reference sequences may be associated with a voltage threshold and a received signal may be bit-compared with each threshold. In one aspect, a threshold-error may be counted when a bit of a binary reference sequence does not match the corresponding bit-compare result. In one aspect, an instrument is provided that compares a received amplitude to a plurality of thresholds at one sample time.
(FR)L'invention concerne un procédé et un appareil pour détecter une erreur de seuil d'un signal multiniveau soumis à un test. Selon un aspect de la présente invention, une séquence de test numérique peut être utilisée pour produire le signal soumis à un test. Selon un aspect, la séquence de test numérique peut être mappée à M séquences de référence binaires, M étant supérieur à un. Selon un aspect, chacune des M séquences de référence binaires peut être associée à un seuil de tension et un signal reçu peut être comparé en termes de bits à chaque seuil. Selon un aspect, une erreur de seuil peut être comptée lorsqu'un bit d'une séquence de référence binaire ne correspond pas au résultat de comparaison de bits correspondant. Selon un aspect, un instrument est prévu, lequel compare une amplitude reçue à une pluralité de seuils à un instant d'échantillon.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)