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1. (WO2015107959) APPAREIL DE CONTRÔLE DE QUALITÉ, PROCÉDÉ DE CONTRÔLE DE QUALITÉ, ET PROGRAMME
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/107959    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/050265
Date de publication : 23.07.2015 Date de dépôt international : 07.01.2015
CIB :
H05K 13/08 (2006.01), H05K 3/34 (2006.01)
Déposants : OMRON CORPORATION [JP/JP]; 801, Minamifudodo-cho, Horikawahigashiiru, Shiokoji-dori, Shimogyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6008530 (JP)
Inventeurs : TANAKA Mayuko; (JP).
FUJII Shimpei; (JP).
MORI Hiroyuki; (JP)
Mandataire : SERA Kazunobu; (JP)
Données relatives à la priorité :
2014-004106 14.01.2014 JP
Titre (EN) QUALITY CONTROL APPARATUS, QUALITY CONTROL METHOD, AND PROGRAM
(FR) APPAREIL DE CONTRÔLE DE QUALITÉ, PROCÉDÉ DE CONTRÔLE DE QUALITÉ, ET PROGRAMME
(JA) 品質管理装置、品質管理方法、およびプログラム
Abrégé : front page image
(EN)A quality control apparatus is provided with: non-uniformity calculation means, which calculates non-uniformity of feature values related to positions or shapes that should be the same in different parts of an electronic component or bonding locations between an electronic component and a printed circuit board; assessment means, which assesses whether or not the non-uniformity is greater than or equal to a predetermined threshold; and parameter modification means which, if the non-uniformity is greater than or equal to the predetermined threshold, proposes a modification to a user regarding modifying a setting parameter for a solder printing apparatus or a mounter. For the non-uniformity, it is possible to adopt such a value as a difference or ratio between maximum values and minimum values for feature values which should normally be the same in different parts; for example, the non-uniformity can be with respect to such values as heights of electrodes or terminals, or solder lengths or solder angles.
(FR)L'invention concerne un appareil de contrôle de qualité comportant : un moyen de calcul de non-uniformité, qui calcule la non-uniformité de valeurs caractéristiques concernant des positions ou des formes qui devraient être les mêmes dans différentes parties d'un composant électronique ou des emplacements de liaison entre un composant électronique ou une carte de circuits imprimés; un moyen d'évaluation, qui évalue si la non-uniformité est ou non supérieure ou égale à un seuil prédéterminé; et un moyen de modification de paramètre qui, si la non-uniformité est ou supérieure ou égale au seuil prédéterminé, propose une modification à un utilisateur concernant la modification d'un paramètre de réglage pour un appareil d'impression par soudage ou un dispositif de montage. Pour la non-uniformité, il est possible d'adopter une telle valeur comme la différence ou le rapport entre des valeurs maximale et minimale pour des valeurs caractéristiques qui devraient normalement être les mêmes dans différentes parties; par exemple, la non-uniformité peut être par rapport des valeurs telles que les hauteurs d'électrodes ou de bornes, ou des longueurs de soudure ou des angles de soudure.
(JA)品質管理装置は、電子部品または電子部品とプリント基板の接合個所の異なる部分において同一であるべき位置または形状に関する特徴量の不均一度を算出する不均一度算出手段と、前記不均一度が所定の閾値以上であるか否か判定する判定手段と、前記不均一度が前記所定の閾値以上である場合に、はんだ印刷装置またはマウンタに対して設定パラメータを変更するかユーザに変更を提案するパラメータ変更手段と、を備える。不均一度は、異なる部分において本来同一となるべき特徴量の最大値および最小値の差や比などを採用可能であり、例えば、電極や端子の高さ、はんだのぬれ長さやぬれ角などを対象とすることができる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)