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1. (WO2015106414) DISPOSITIF D'AFFICHAGE À CRISTAUX LIQUIDES, PROCÉDÉ DE DÉTECTION POUR DISPOSITIF D'AFFICHAGE À CRISTAUX LIQUIDES ET DISPOSITIF ÉLECTRONIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/106414    N° de la demande internationale :    PCT/CN2014/070698
Date de publication : 23.07.2015 Date de dépôt international : 16.01.2014
CIB :
G02F 1/13 (2006.01)
Déposants : HUAWEI DEVICE CO., LTD. [CN/CN]; Building B2 Huawei Industrial Base, Bantian, Longgang Shenzhen, Guangdong 518129 (CN)
Inventeurs : LI, Xiang; (CN).
WANG, Dongjie; (CN).
YANG, Yi; (CN)
Mandataire : GUANGZHOU SCIHEAD PATENT AGENT CO.. LTD; Room 1508, Huihua Commercial & Trade Building No. 80, XianLie Zhong Road, Yuexiu Guangzhou, Guangdong 510070 (CN)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) LIQUID CRYSTAL DISPLAY, DETECTION METHOD FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY AND ELECTRONIC DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'AFFICHAGE À CRISTAUX LIQUIDES, PROCÉDÉ DE DÉTECTION POUR DISPOSITIF D'AFFICHAGE À CRISTAUX LIQUIDES ET DISPOSITIF ÉLECTRONIQUE
(ZH) 液晶显示器及液晶显示器检测方法和电子装置
Abrégé : front page image
(EN)A liquid crystal display (10), comprising a glass substrate (12) and a driver chip (14). The driver chip (14) is used to drive the liquid crystal display (10). The liquid crystal display (10) also comprises a test line (16). The test line (16) is formed within the glass substrate (12), and extends near to the edge of the glass substrate (12). The driver chip (14) comprises an input pin and an output pin. Two ends of the test line (16) are respectively connected to the input pin and the output pin, forming a closed loop. The presence of a crack in the glass substrate (12) is determined by measuring whether the test line (16) is a pathway. Also provided is an electronic device (200) and a detection method for the liquid crystal display (10). The presence of a crack in the glass substrate (12) is determined by detecting whether the test line (16) is a pathway, thereby achieving automatic detection without disassembly, and improving detection efficiency.
(FR)La présente invention porte sur un dispositif d'affichage (10) à cristaux liquides comprenant un substrat (12) de verre et une puce (14) de circuit d'attaque. La puce (14) de circuit d'attaque est utilisée pour commander le dispositif d'affichage (10) à cristaux liquides. Le dispositif d'affichage (10) à cristaux liquides comprend également une ligne (16) d'essai. La ligne (16) d'essai est formée à l'intérieur du substrat (12) de verre, et s'étend près du bord du substrat (12) de verre. La puce (14) de circuit d'attaque comprend une broche d'entrée et une broche de sortie. Deux extrémités de la ligne (16) d'essai sont respectivement connectées à la broche d'entrée et à la broche de sortie, formant une boucle fermée. La présence d'une fissure dans le substrat (12) de verre est déterminée par la mesure du point de savoir si la ligne (16) d'essai est un passage. La présente invention porte également sur un dispositif (200) électronique et un procédé de détection pour le dispositif d'affichage (10) à cristaux liquides. La présence d'une fissure dans le substrat (12) de verre est déterminée par la détection du point de savoir si la ligne (16) d'essai est un passage, obtenant ainsi une détection automatique sans désassemblage, et améliorant un rendement de détection.
(ZH)一种液晶显示器(10),包括玻璃基板(12)及驱动芯片(14),驱动芯片(14)用于驱动液晶显示器(10),液晶显示器(10)还包括测试线(16),测试线(16)形成于玻璃基板(12)中,且靠近玻璃基板(12)的边缘延伸,驱动芯片(14)包括输入引脚和输出引脚,测试线(16)的两端分别连接至输入引脚和输出引脚,以形成闭合环路,通过测量测试线(16)是否通路判断玻璃基板(12)是否存在裂纹。还提供一种电子装置(200)和液晶显示器(10)检测方法。通过检测测试线(16)的是否通路判断玻璃基板(12)是否有裂纹,能够实现不拆机自动检测,提高了检测效率。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)