WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2015104621) DISPOSITIF
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/104621    N° de la demande internationale :    PCT/IB2014/067304
Date de publication : 16.07.2015 Date de dépôt international : 24.12.2014
CIB :
H01L 21/82 (2006.01), G01R 31/28 (2006.01), H01L 21/822 (2006.01), H01L 27/04 (2006.01), H01L 29/786 (2006.01), H03K 19/173 (2006.01)
Déposants : SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD. [JP/JP]; 398, Hase Atsugi-shi, Kanagawa 2430036 (JP)
Inventeurs : KUROKAWA, Yoshiyuki; (JP)
Données relatives à la priorité :
2014-002134 09.01.2014 JP
Titre (EN) DEVICE
(FR) DISPOSITIF
Abrégé : front page image
(EN)A device that is capable of generating a new test pattern after the design phase and has a small area of a circuit not in use during normal operation includes a first circuit and a second circuit. The second circuit includes a third circuit and fourth circuit. The fourth circuit has a function of storing data for determining the configuration of the third circuit. When a test for the operating state of the first circuit is performed, the second circuit has a function of generating a signal for the test. When the test is not performed, the second circuit has a function of storing data used for processing in the first circuit and a function of comparing a plurality of signals.
(FR)L'invention concerne un dispositif qui peut générer un nouveau motif de test après la phase de conception et présente une petite zone d'un circuit qui n'est pas utilisée pendant un fonctionnement normal, ledit dispositif comprenant un premier circuit et un deuxième circuit. Le deuxième circuit comprend un troisième circuit et un quatrième circuit. Le quatrième circuit comporte une fonction permettant de stocker des données pour déterminer la configuration du troisième circuit. Lorsqu'un test permettant d'établir l'état de fonctionnement du premier circuit est effectué, le deuxième circuit comporte une fonction permettant de générer un signal pour effectuer le test. Lorsque le test n'est pas effectué, le deuxième circuit comporte une fonction permettant de stocker des données utilisées pour permettre un traitement dans le premier circuit et une fonction permettant de comparer une pluralité de signaux.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)