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1. (WO2015103492) SYSTÈME D'ANALYSE DE MATÉRIAU À BASE D'ABLATION PAR LASER COMPRENANT UN DÉTECTEUR DE PUISSANCE/ÉNERGIE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/103492    N° de la demande internationale :    PCT/US2015/010062
Date de publication : 09.07.2015 Date de dépôt international : 02.01.2015
CIB :
H01J 49/04 (2006.01), G01N 21/68 (2006.01)
Déposants : TELEDYNE INSTRUMENTS, INC. [US/US]; 1049 Camino Dos Rios Thousand Oaks, CA 91360 (US)
Inventeurs : ROY, John, W.; (US).
BARBULA, James, Bryan; (US)
Mandataire : CAPRIOTTI, Roberto; (US)
Données relatives à la priorité :
61/924,182 06.01.2014 US
Titre (EN) LASER-ABLATION-BASED MATERIAL ANALYSIS SYSTEM WITH A POWER/ENERGY DETECTOR
(FR) SYSTÈME D'ANALYSE DE MATÉRIAU À BASE D'ABLATION PAR LASER COMPRENANT UN DÉTECTEUR DE PUISSANCE/ÉNERGIE
Abrégé : front page image
(EN)A laser ablation system and methods are disclosed for performing material analysis. The laser ablation system includes a sample chamber which holds and encloses a sample material to be ablated; a laser source that produces a laser beam which is directed into the sample chamber to a surface of the sample material to cause laser ablation; a laser measuring device which is physically attached to the sample chamber to measure a power/energy value of the laser beam; and a material analyzing module that is coupled to the sample chamber to receive the ablated material from laser ablation of the sample material.
(FR)Cette invention concerne un système et des procédés d'ablation par laser destinés à effectuer une analyse de matériau Ledit système d’ablation par laser comprend : une chambre à échantillon qui accueille et renferme un matériau d'échantillon à ablater ; une source laser qui produit un faisceau laser qui est dirigé vers l'intérieur de la chambre à échantillon sur une surface du matériau d'échantillon pour provoquer une ablation par laser ; un dispositif de mesure de laser qui est physiquement relié à la chambre à échantillon pour mesurer une valeur de puissance/énergie du faisceau laser ; et un module d'analyse de matériau qui est couplé à ladite chambre à échantillon pour recevoir le matériau ablaté par ablation laser du matériau d'échantillon.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)