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1. (WO2015103366) PROCEDE POUR DETERMINER LA CONCENTRATION D'IMPURETES METALLIQUES CONTAMINANT UN PRODUIT DE SILICIUM
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/103366    N° de la demande internationale :    PCT/US2014/072946
Date de publication : 09.07.2015 Date de dépôt international : 31.12.2014
CIB :
C01B 33/021 (2006.01)
Déposants : HEMLOCK SEMICONDUCTOR CORPORATION [US/US]; 12334 Geddes Road Hemlock, Michigan 48626 (US)
Inventeurs : KRESZOWSKI, Douglas H.; (US).
PUEHL III, Carl W.; (US).
WORKMAN, Dale Franklin; (US)
Mandataire : KOSTIEW, Krista; (US)
Données relatives à la priorité :
61/923,328 03.01.2014 US
Titre (EN) METHOD FOR DETERMINING A CONCENTRATION OF METAL IMPURITIES CONTAMINATING A SILICON PRODUCT
(FR) PROCEDE POUR DETERMINER LA CONCENTRATION D'IMPURETES METALLIQUES CONTAMINANT UN PRODUIT DE SILICIUM
Abrégé : front page image
(EN)A method determines a concentration of metal impurities contaminating a silicon product. The method comprises obtaining a test sample of the silicon product with the metal impurities disposed thereon. The test sample is placed within a first vessel. A first acid solution is added to the first vessel containing the test sample. The test sample is submerged into the first acid solution to produce a mixed solution comprising the first acid solution, the metal impurities, and digested silicon. The undigested silicon is separated from the mixed solution. The mixed solution is analyzed to determine the concentration of metal impurities contaminating the silicon product.
(FR)L'invention concerne un procédé permettant de déterminer la concentration d'impuretés métalliques contaminant un produit de silicium. Le procédé consiste à : obtenir un échantillon de test du produit de silicium sur lequel sont placées les impuretés métalliques ; mettre l'échantillon de test dans un premier récipient ; ajouter une première solution d'acide dans le récipient contenant l'échantillon de test ; immerger l'échantillon de test dans la première solution d'acide afin de produire une solution mixte comprenant la première solution d'acide, les impuretés métalliques et le silicium digéré ; séparer le silicium non digéré de la solution mixte ; analyser la solution mixte afin de déterminer la concentration des impuretés métalliques contaminant le produit de silicium.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)