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1. (WO2015103321) APPAREIL D'AFFICHAGE COMPRENANT UN ÉLÉMENT D'AFFICHAGE FACTICE POUR UN TEST DE TRANSISTOR EN COUCHES MINCES (TFT)
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/103321    N° de la demande internationale :    PCT/US2014/072862
Date de publication : 09.07.2015 Date de dépôt international : 30.12.2014
CIB :
G09G 3/00 (2006.01), G09G 3/34 (2006.01)
Déposants : PIXTRONIX, INC. [US/US]; ATTN: International IP Administration 5775 Morehouse Drive San Diego, California 92121-1714 (US)
Inventeurs : LEWIS, Alan Gerald; (US).
TODOROVICH, Mark Milenko; (US).
NADIGUEBE, Alain Blaing; (US).
VUKOVIC-RADIC, Nada; (US).
LEWIS, Stephen Robert; (US)
Mandataire : GORDON, Edward A.; (US)
Données relatives à la priorité :
61/923,323 03.01.2014 US
14/295,493 04.06.2014 US
14/586,644 30.12.2014 US (Priority Withdrawn 27.04.2015)
Titre (EN) DISPLAY APPARATUS INCLUDING DUMMY DISPLAY ELEMENT FOR TFT TESTING
(FR) APPAREIL D'AFFICHAGE COMPRENANT UN ÉLÉMENT D'AFFICHAGE FACTICE POUR UN TEST DE TRANSISTOR EN COUCHES MINCES (TFT)
Abrégé : front page image
(EN)This disclosure provides systems, methods and apparatus for a display apparatus including dummy display elements that can be switched between being coupled to a test bus and a drive bus. When connected to the drive bus, the circuit components, including thin-film transistors, of the dummy display element experience exposure to typical operating signals. When connected to the test bus, the display apparatus can test the operating parameters of the dummy display element circuit components.
(FR)La présente invention concerne des systèmes, des procédés et un appareil pour un appareil d'affichage comprenant des éléments d'affichage factices qui peuvent être commutés entre un état couplé à un bus de test et un état couplé à un bus pilote. Lorsqu'ils sont connectés au bus pilote, les composants de circuit, comprenant des transistors en couches minces, de l'élément d'affichage factice subissent une exposition à des signaux de fonctionnement typiques. Lorsqu'ils sont connectés au bus de test, l'appareil d'affichage peut tester les paramètres de fonctionnement des composants de circuit d'élément d'affichage factice.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)