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1. (WO2015102586) DÉTERMINATION DE DÉPENDANCE EN TEMPÉRATURE D'INDICES DE RÉFRACTION COMPLEXES DE MATÉRIAUX DE COUCHES PENDANT LA FABRICATION D'ÉLÉMENTS DE CALCUL INTÉGRÉS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/102586    N° de la demande internationale :    PCT/US2013/078366
Date de publication : 09.07.2015 Date de dépôt international : 30.12.2013
CIB :
G06F 19/00 (2011.01)
Déposants : HALLIBURTON ENERGY SERVICES, INC. [US/US]; 3000 N. Sam Houston Parkway E. Houston, Texas 77032-3219 (US)
Inventeurs : PERKINS, David L.; (US).
FREESE, Robert Paul; (US).
JONES, Christopher Michael; (US).
GARDNER, Richard Neal; (US)
Mandataire : VACAR, Dan; Fish & Richardson P.C. P.O. Box 1022 Minneapolis, Minnesota 55440-1022 (US)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) DETERMINING TEMPERATURE DEPENDENCE OF COMPLEX REFRACTIVE INDICES OF LAYER MATERIALS DURING FABRICATION OF INTEGRATED COMPUTATIONAL ELEMENTS
(FR) DÉTERMINATION DE DÉPENDANCE EN TEMPÉRATURE D'INDICES DE RÉFRACTION COMPLEXES DE MATÉRIAUX DE COUCHES PENDANT LA FABRICATION D'ÉLÉMENTS DE CALCUL INTÉGRÉS
Abrégé : front page image
(EN)A design of an integrated computational element (ICE) includes specification of a substrate and a plurality of layers, their respective constitutive materials, target thicknesses and refractive indices, where refractive indices of respective materials of adjacent layers are different from each other, and a notional ICE fabricated in accordance with the ICE design is related to a characteristic of a sample. One or more layers of the plurality of layers of an ICE are formed based on the ICE design, such that the formed layer(s) includes(e) corresponding material(s) from among the specified constitutive materials of the ICE. Characteristics of probe-light interacted with the formed layer(s) are measured at two or more temperatures. Temperature dependence(ies) of one or more refractive indices of the corresponding material(s) of the formed layers is(are) determined using the measured characteristics. The received ICE design is updated based on the determined temperature dependence(ies) of the refractive index(ices).
(FR)L'invention concerne un modèle d'élément de calcul intégré (ICE) comportant la spécification d'un substrat et d'une pluralité de couches, de leurs matériaux constitutifs respectifs, des épaisseurs et des indices de réfraction cible, les indices de réfraction des matériaux respectifs de couches adjacentes étant différents les uns des autres. Un ICE théorique fabriqué selon le modèle d'ICE est associé à une caractéristique d'un échantillon. Au moins une couche parmi la pluralité de couches d'un ICE est formée sur la base du modèle d'ICE, de sorte que ladite couche formée comporte un/des matériau(x) correspondant parmi les matériaux constitutifs spécifiés de l'ICE. Les caractéristiques d'une lumière sonde mise en interaction avec ladite couche formée sont mesurées à au moins deux températures. La/les dépendance(s) en température d'au moins un indice de réfraction du/des matériau(x) correspondant à ladite couche formée est/sont déterminée(s) au moyen des caractéristiques mesurées. Le modèle d'ICE reçu est mis à jour sur la base de la/des dépendance(s) en température du/des indice(s) de réfraction.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)