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1. (WO2015102174) SYSTÈME DE TRAITEMENT D'INFORMATIONS DE MESURE DU RISQUE DE LITIGE SUR DES BREVETS ET PROCÉDÉ DE TRAITEMENT D'INFORMATIONS FOR SYSTÈME
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/102174    N° de la demande internationale :    PCT/KR2014/004885
Date de publication : 09.07.2015 Date de dépôt international : 02.06.2014
CIB :
G06F 19/00 (2011.01)
Déposants : KOREA POLYTECHNIC UNIVERSITY INDUSTRY ACADEMIC COOPERATION FOUNDATION [KR/KR]; 237, Sangidaehak-ro, Siheung-si Gyeonggi-do 429-793 (KR).
KWANGGETO CO.,LTD. [KR/KR]; 1Fl., 32, Teheran-ro 34-gil, Gangnam-gu Seoul 135-921 (KR)
Inventeurs : LEE, Young Kon; (KR).
GONG, Sung Rang; (KR).
KANG, Min Soo; (KR)
Mandataire : SU INTELLECTUAL PROPERTY; 2Fl., 8, Nonhyeon-ro 101-gil, Gangnam-gu Seoul 135-907 (KR)
Données relatives à la priorité :
10-2013-0166642 30.12.2013 KR
Titre (EN) SYSTEM FOR PROCESSING PATENT DISPUTE RISK MEASUREMENT INFORMATION AND INFORMATION PROCESSING METHOD FOR SYSTEM
(FR) SYSTÈME DE TRAITEMENT D'INFORMATIONS DE MESURE DU RISQUE DE LITIGE SUR DES BREVETS ET PROCÉDÉ DE TRAITEMENT D'INFORMATIONS FOR SYSTÈME
(KO) 특허 분쟁 리스크 계량 정보 처리 시스템 및 그 시스템의 정보 처리 방법
Abrégé : front page image
(EN)The present invention comprises the steps of: (A) receiving a dispute patent set comprising at least two lawsuit patent and appeal patents; (B) receiving dispute information related to the dispute patents; (C) assigning a dispute numeric value to the dispute patents belonging to the dispute patent set; and (D) with respect to the dispute patent set to which the dispute numeric value is assigned and a non-dispute patent set comprising two or more non-dispute patents to which dispute numeric values are assigned as a non-dispute numeric reference value, establishing at least one patent dispute risk measurement model by setting the dispute numeric value and the non-dispute numeric reference value as reaction variable values and using a description variable value for each of two or more description variables and a statistical scheme for the dispute patents and the non-dispute patents.
(FR)La présente invention comporte les étapes consistant à: (A) recevoir un ensemble de brevets litigieux comportant au moins deux brevets de procès et des brevets de recours; (B) recevoir des informations de litige liées aux brevets litigieux; (C) affecter une valeur numérique de litige aux brevets litigieux appartenant à l'ensemble de brevets litigieux; et (D) par rapport à l'ensemble de brevets litigieux auquel la valeur numérique de litige est affectée et un à ensemble de brevets non litigieux comportant au moins deux brevets non litigieux auxquels des valeurs numériques de litige sont affectées en tant que valeur de référence numérique hors litige, établir au moins un modèle de mesure du risque de litige sur les brevets en spécifiant la valeur numérique de litige et la valeur de référence numérique hors litige en tant que valeurs de variables de réaction et en utilisant une valeur de variable de description pour chaque variable parmi au moins deux variables de description et un schéma statistique pour les brevets litigieux et les brevets non litigieux.
(KO)본 발명은 (A) 적어도 2 이상의 소송 특허 및 준 소송 특허로 구성되는 분쟁 특허 집합을 입수 받는 단계; (B) 상기 분쟁 특허와 관련된 분쟁 정보를 입수 받는 단계; (C) 상기 분쟁 특허 집합에 속하는 분쟁 특허에 대하여 분쟁 수치값을 부여하는 단계; 및 (D) 상기 분쟁 수치값이 부여된 분쟁 특허 집합과 분쟁 수치값이 비분쟁 수치 기준값으로 부여되는 적어도 2 이상의 비분쟁 특허로 구성되는 비분쟁 특허 집합에 대하여, 상기 분쟁 수치값과 비분쟁 수치 기준값을 반응 변수값으로 하고, 상기 분쟁 특허와 상기 비분쟁 특허에 대하여 적어도 2 이상의 설명 변수별 설명 변수값을 사용하여 통계학적 기법을 사용하여 적어도 하나 이상의 특허 분쟁 리스크 계량 모델을 수립하는 단계;를 포함한다.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)