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1. (WO2015100983) DISPOSITIF D'ESSAI DE MODULE DE RETROECLAIRAGE A ECLAIRAGE DIRECT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/100983    N° de la demande internationale :    PCT/CN2014/080911
Date de publication : 09.07.2015 Date de dépôt international : 27.06.2014
CIB :
G02F 1/13 (2006.01), G01M 11/02 (2006.01)
Déposants : BOE TECHNOLOGY GROUP CO., LTD. [CN/CN]; No.10 Jiuxianqiao Rd., Chaoyang District Beijing 100015 (CN).
BEIJING BOE VISION-ELECTRONIC TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; 1F, No.11 Dize Rd., BDA Beijing 100176 (CN)
Inventeurs : LI, Mingjun; (CN).
TIAN, Yunlong; (CN).
FU, Changjia; (CN)
Mandataire : LIU, SHEN & ASSOCIATES; 10th Floor, Building 1, 10 Caihefang Road, Haidian District Beijing 100080 (CN)
Données relatives à la priorité :
201310746094.2 30.12.2013 CN
Titre (EN) DIRECT-LIT BACKLIGHT MODULE TESTING DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ESSAI DE MODULE DE RETROECLAIRAGE A ECLAIRAGE DIRECT
(ZH) 直下式背光模组测试装置
Abrégé : front page image
(EN)A direct-lit backlight module testing device, the testing device comprising: a light emitting element fixing unit configured to fix a light emitting element; an optical element fixing unit configured to fix an optical element in the light emergent path of the light emitting element; a detection head (85) configured to detect the light emitted by the light emitting element and transmitted through the optical element.
(FR)La présente invention concerne un dispositif d'essai de module de rétroéclairage à éclairage direct, le dispositif d'essai comportant: une unité de fixation d'élément d'émission de lumière pour la fixation d'un élément d'émission de lumière; une unité de fixation d'élément optique pour la fixation d'un élément optique dans un chemin de lumière émergent de l'élément d'émission de lumière; une tête de détection (85) configurée pour détecter la lumière émise par l'élément d'émission de lumière et transmise à travers l'élément optique.
(ZH)一种直下式背光模组测试装置,所述测试装置包括:发光件固定单元,构造为用于固定发光元件;光学件固定单元,构造为用于将光学件固定在所述发光件的出光路径上;检测头(85),构造为用于检测自所述发光件发出且透过所述光学件的光。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)