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1. (WO2015100023) CARACTÉRISATION DE SITES EXPÉRIMENTAUX POUR TESTS DE RÉSISTANCE AGRONOMIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/100023    N° de la demande internationale :    PCT/US2014/069748
Date de publication : 02.07.2015 Date de dépôt international : 11.12.2014
CIB :
A01C 1/00 (2006.01), A01C 21/00 (2006.01), G01N 33/24 (2006.01)
Déposants : DOW AGROSCIENCES LLC [US/US]; 9330 Zionsville Road Indianapolis, Indiana 46268 (US)
Inventeurs : CORAM, Tristan E.; (US).
WRIGHT, Terry R.; (US).
CASTIGLIONI, Paolo P.; (US).
MISHRA, Sachidananda; (US)
Mandataire : DREWRY, Jamie M.; (US)
Données relatives à la priorité :
61/921,268 27.12.2013 US
62/065,199 17.10.2014 US
Titre (EN) CHARACTERIZING FIELD SITES FOR AGRONOMIC STRESS TESTS
(FR) CARACTÉRISATION DE SITES EXPÉRIMENTAUX POUR TESTS DE RÉSISTANCE AGRONOMIQUE
Abrégé : front page image
(EN)Methods are disclosed for characterizing variability at field sites and for selecting "zones of uniformity" at field sites with little or no variability to enhance the probability of successful agronomic stress trials.
(FR)L'invention concerne des procédés de caractérisation de la variabilité au niveau de sites expérimentaux et de sélection de "zones d'uniformité" au niveau de sites expérimentaux présentant peu ou pas de variabilité pour améliorer la probabilité de réussite de tests de résistance agronomique.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)