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1. (WO2015099431) UNITÉ À FICHE D'ALIGNEMENT D'UN DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEUR ET APPAREIL DE VÉRIFICATION DE DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEUR LA COMPRENANT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/099431    N° de la demande internationale :    PCT/KR2014/012768
Date de publication : 02.07.2015 Date de dépôt international : 23.12.2014
CIB :
G01R 31/26 (2014.01)
Déposants : ISC CO., LTD. [KR/KR]; 6F, 215, Galmachi-ro Jungwon-gu, Seongnam-si Gyeonggi-do 462-120 (KR)
Inventeurs : KIM, Gi Min; (KR).
YUN, Yong Hee; (KR)
Mandataire : Y.P.LEE, MOCK & PARTNERS; 12F Daelim Acrotel, 13 Eonju-ro 30-gil Gangnam-gu Seoul 135-971 (KR)
Données relatives à la priorité :
10-2013-0162898 24.12.2013 KR
Titre (EN) ALIGN SOCKET UNIT OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE CHECKING APPARATUS COMPRISING SAME
(FR) UNITÉ À FICHE D'ALIGNEMENT D'UN DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEUR ET APPAREIL DE VÉRIFICATION DE DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEUR LA COMPRENANT
(KO) 반도체 디바이스 얼라인 소켓유닛 및 이를 포함하는 반도체 디바이스 검사장치
Abrégé : front page image
(EN)Disclosed is an align socket unit of a semiconductor device. The align socket unit of the semiconductor device according to one embodiment of the present invention comprises: an insertion body having an opening which receives the semiconductor device so as to test a packaged semiconductor device; a guide sheet which is installed in the lower surface of the insertion body, and which is provided for an alignment of an insertion position of a ball terminal provided in the semiconductor device; a base part to which the lower surface of the insertion body is seated, and which comprises a plurality of probe pins disposed in a position facing the ball terminal; and a guide pad which is in close contact with the lower surface of the guide sheet, and which has guide holes where the upper ends of the probe pins are inserted partially so as to always guide the position of the probe pins to the right position.
(FR)La présente invention concerne une unité à fiche d'alignement d'un dispositif à semi-conducteur. L'unité à fiche d'alignement du dispositif à semi-conducteur, conformément à un mode de réalisation de la présente invention, comprend : un corps d'insertion présentant une ouverture qui reçoit le dispositif à semi-conducteur afin de pouvoir tester un dispositif à semi-conducteur mis en boîtier ; une feuille de guidage qui est installée sur la surface inférieure du corps d'insertion et qui est prévue pour l'alignement d'une position d'insertion d'une borne à bille prévue dans le dispositif à semi-conducteur ; une partie de base sur laquelle repose la surface inférieure du corps d'insertion et qui comprend une pluralité de broches de sondage disposées en face de la borne à bille ; et une pastille de guidage en contact étroit avec la surface inférieure de la feuille de guidage et comportant des orifices de guidage dans lesquels sont partiellement insérées les extrémités supérieures des broches de sondage de manière à toujours guider la position des broches de sondage vers la position voulue.
(KO)반도체 디바이스 얼라인 소켓유닛이 개시된다. 본 발명의 일 실시 예에 따른 반도체 디바이스 얼라인 소켓유닛은 패키지화된 반도체 디바이스에 대한 테스트를 위해 상기 반도체 디바이스가 수용되는 개구부가 형성된 삽입본체; 상기 삽입본체의 하면에 설치되고 상기 반도체 디바이스에 구비된 볼 단자의 삽입 위치에 대한 정렬을 위한 가이드 시트; 상기 삽입본체의 하면이 안착되고 상기 볼 단자와 서로 마주보는 위치에 배치된 다수개의 프루브 핀을 포함하는 베이스 부; 및 상기 가이드 시트의 하면에 밀착되고 상기 프루브 핀의 상단이 부분 삽입되어 상기 프루브 핀의 위치를 항시 정 위치로 가이드 하는 가이드 홀이 형성된 가이드 패드를 포함한다.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)