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1. (WO2015098929) PROCÉDÉ DE DÉTECTION D'UN DÉFAUT DE SURFACE ET DISPOSITIF DE DÉTECTION D'UN DÉFAUT DE SURFACE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/098929    N° de la demande internationale :    PCT/JP2014/084077
Date de publication : 02.07.2015 Date de dépôt international : 24.12.2014
CIB :
G01N 21/892 (2006.01)
Déposants : JFE STEEL CORPORATION [JP/JP]; 2-3, Uchisaiwai-cho 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1000011 (JP)
Inventeurs : ONO, Hiroaki; (JP).
KODAMA, Toshifumi; (JP).
KOSHIHARA, Takahiro; (JP).
OGAWA, Akihiro; (JP).
IIZUKA, Yukinori; (JP)
Mandataire : SAKAI, Hiroaki; (JP)
Données relatives à la priorité :
2013-270881 27.12.2013 JP
2014-090995 25.04.2014 JP
2014-090996 25.04.2014 JP
Titre (EN) SURFACE DEFECT DETECTION METHOD AND SURFACE DEFECT DETECTION DEVICE
(FR) PROCÉDÉ DE DÉTECTION D'UN DÉFAUT DE SURFACE ET DISPOSITIF DE DÉTECTION D'UN DÉFAUT DE SURFACE
(JA) 表面欠陥検出方法及び表面欠陥検出装置
Abrégé : front page image
(EN)This surface defect detection method is for optically detecting a surface defect of a steel pipe (P), and includes an irradiation step for irradiating illumination light beams (L) from different directions onto the same region under inspection on a steel pipe (P) using two distinguishable light sources (2a, 2b) and a detection step for acquiring images of the reflected light of the light beams (L) and detecting a surface defect on the region under inspection by carrying out subtraction processing using the acquired images. As a result, it is possible to accurately distinguish scales and benign patterns from surface defects.
(FR)L'invention concerne un procédé de détection de défauts de surface permettant de détecter un défaut de surface d'un tuyau en acier (P), et comprend une étape d'exposition permettant d'exposer à des faisceaux lumineux (L) d'éclairage provenant de différentes directions la même région en cours d'inspection sur un tuyau en acier (P) à l'aide de deux sources de lumière (2a, 2b) distinctes et une étape de détection permettant d'acquérir des images de la lumière réfléchie des faisceaux lumineux (L) et de détecter un défaut de surface sur la région en cours d'inspection en réalisant un traitement de soustraction à l'aide des images acquises. Ainsi, il est possible de distinguer précisément des échelles et des motifs bénins à partir de défauts de surface.
(JA) 表面欠陥検出方法は、鋼管Pの表面欠陥を光学的に検出する表面欠陥検出方法であって、2つの弁別可能な光源2a,2bを利用して鋼管Pの同一の検査対象部位に異なる方向から照明光Lを照射する照射ステップと、各照明光Lの反射光による画像を取得し、取得した画像間で差分処理を行うことによって検査対象部位における表面欠陥を検出する検出ステップと、を含む。これにより、スケールや無害模様と表面欠陥とを精度よく弁別することができる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)