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1. (WO2015098796) ÉLÉMENT ÉLECTROLUMINESCENT, SOURCE DE LUMIÈRE DE RÉFÉRENCE ET PROCÉDÉ D'OBSERVATION DU PHOSPHORE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/098796    N° de la demande internationale :    PCT/JP2014/083835
Date de publication : 02.07.2015 Date de dépôt international : 22.12.2014
CIB :
H01L 33/14 (2010.01), G01J 1/00 (2006.01), G01M 11/00 (2006.01), H01L 33/00 (2010.01), H01L 33/38 (2010.01)
Déposants : THE UNIVERSITY OF TOKYO [JP/JP]; 3-1, Hongo 7-chome, Bunkyo-ku, Tokyo 1138654 (JP) (JP only).
AKIYAMA Hidefumi [JP/JP]; (JP) (AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BH, BJ, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CL, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GT, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IR, IS, IT, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, ME, MG, MK, ML, MN, MR, MT, MW, MX, MY, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, ST, SV, SY, SZ, TD, TG, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW only).
NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY [JP/JP]; 3-1, Kasumigaseki 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008921 (JP).
ATTO CORPORATION [JP/JP]; 2-2, Motoasakusa 3-chome, Taito-ku, Tokyo 1110041 (JP)
Inventeurs : AKIYAMA Hidefumi; (JP).
YOSHITA Masahiro; (JP).
OHMIYA Yoshihiro; (JP).
KUBOTA Hidehiro; (JP).
MORI Kaneo; (JP).
SHIMOGAWARA Masahiro; (JP)
Mandataire : FUKUOKA Masahiro; (JP)
Données relatives à la priorité :
2013-265184 24.12.2013 JP
2014-094698 01.05.2014 JP
Titre (EN) LIGHT EMITTING ELEMENT, REFERENCE LIGHT SOURCE, AND PHOSPHOR OBSERVATION METHOD
(FR) ÉLÉMENT ÉLECTROLUMINESCENT, SOURCE DE LUMIÈRE DE RÉFÉRENCE ET PROCÉDÉ D'OBSERVATION DU PHOSPHORE
(JA) 発光素子、基準用光源および発光体の観察方法
Abrégé : front page image
(EN)In the present invention, light, the emission angle distribution of which is either a Lambert emission distribution or an isotropic uniform emission distribution, is extracted from a light extraction opening window. A light emitting element, in which the in-plane distribution of the light intensity of a light extraction surface in the light extraction opening window is uniform, is used as a reference light source when performing measurement of the absolute light volume of weak light emitted from a phosphor which is the object of measurement.
(FR)Selon la présente invention, la lumière dont la distribution d'angles d'émission est soit une distribution d'émission de Lambert, soit une distribution d'émission uniforme isotrope, est extraite d'une fenêtre d'ouverture d'extraction de lumière. Un élément électroluminescent, pour lequel la distribution dans le plan de l'intensité de lumière d'une surface d'extraction de lumière dans la fenêtre d'ouverture d'extraction de lumière est uniforme, est utilisé comme source de lumière de référence lors de la réalisation d'une mesure du volume de lumière absolu d'une faible lumière émise depuis un phosphore qui fait l'objet d'une mesure.
(JA) 放射角度分布がランバート性放射分布又は等方性一様放射分布のいずれかである光が光取り出し開口窓から取出され、光取り出し開口窓内の光取り出し面の光強度の面内分布が均一である発光素子を、測定対象物である発光体から放射される微弱光の絶対光量の測定を行う際の標準光源として用いる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)