WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2015097735) PROGRAMME DE CALCUL D'INDUCTANCE, ET ÉQUIPEMENT ÉLECTRIQUE L'UTILISANT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/097735    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/084428
Date de publication : 02.07.2015 Date de dépôt international : 24.12.2013
CIB :
G06F 17/50 (2006.01), H01F 41/00 (2006.01)
Déposants : HITACHI, LTD. [JP/JP]; 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280 (JP)
Inventeurs : MAKI Kohji; (JP)
Mandataire : SEIRYO I.P.C.; 7-1, Hatchobori 2-chome, Chuo-ku, Tokyo 1040032 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) INDUCTANCE CALCULATION PROGRAM, AND ELECTRICAL EQUIPMENT DESIGNED USING THE SAME
(FR) PROGRAMME DE CALCUL D'INDUCTANCE, ET ÉQUIPEMENT ÉLECTRIQUE L'UTILISANT
(JA) インダクタンス計算プログラム、及びそれを用いて設計した電気機器
Abrégé : front page image
(EN)The inductance at high frequency of a piece of electrical equipment such as a motor is obtained rapidly and with high precision using magnetic field analysis. First a two-dimensional magnetic field analysis, in which turns are energized one at a time, is carried out, and then a three-dimensional magnetic field analysis, in which all the turns are energized collectively, is carried out. The inductance of each turn, obtained by the two-dimensional magnetic field analysis, is corrected by multiplying said inductance by a correction factor obtained by comparing the results of the two analyses relating to the entire coil.
(FR)L'inductance à haute fréquence d'une pièce d'un équipement électrique tel qu'un moteur est obtenue de manière rapide et avec une grande précision à l'aide d'une analyse de champ magnétique. Une analyse de champ magnétique bidimensionnelle, dans laquelle les spires sont excitées individuellement, est d'abord mise en œuvre, et une analyse de champ magnétique tridimensionnelle, dans laquelle l'ensemble des spires est excité de manière collective, est ensuite mise en œuvre. L'inductance de chaque spire, obtenue au moyen de l'analyse de champ magnétique bidimensionnelle, est corrigée par multiplication de ladite inductance par un facteur de correction obtenu par comparaison des résultats des deux analyses se rapportant à la totalité de la bobine.
(JA)モータなどの電気機器の高周波におけるインダクタンスを、磁場解析で高速・高精度に求める。 最初にターン毎に通電する二次元磁場解析を行い、続いて全ターン一括通電する三次元磁場解析を行い、コイル全体のインダクタンスに関する両解析結果の比較から求めた補正係数を、前記二次元磁場解析で求めた各ターンのインダクタンスに掛けて補正する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)