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1. (WO2015096693) PROCÉDÉ D'ANALYSE PERMETTANT DE FABRIQUER COUCHE PAR COUCHE UN OBJET TRIDIMENSIONNEL
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/096693    N° de la demande internationale :    PCT/CN2014/094629
Date de publication : 02.07.2015 Date de dépôt international : 23.12.2014
CIB :
G06F 19/00 (2011.01), B22F 3/105 (2006.01), B29C 67/00 (2006.01)
Déposants : HUNAN FARSOON HIGH-TECH CO.,LTD. [CN/CN]; 181 LinYu Road, Changsha National High-tech Industrial Zone Changsha, Hunan 410205 (CN)
Inventeurs : XU, Xiaoshu; (CN).
YANG, Dafeng; (CN)
Mandataire : UNITALEN ATTORNEYS AT LAW; 7th Floor, Scitech Place No.22, Jian Guo Men Wai Ave., Chao Yang District Beijing 100004 (CN)
Données relatives à la priorité :
201310725052.0 25.12.2013 CN
Titre (EN) SCANNING METHOD FOR MANUFACTURING THREE-DIMENSIONAL OBJECT LAYER BY LAYER
(FR) PROCÉDÉ D'ANALYSE PERMETTANT DE FABRIQUER COUCHE PAR COUCHE UN OBJET TRIDIMENSIONNEL
(ZH) 一种用于逐层制造三维物体的扫描方法
Abrégé : front page image
(EN)A scanning method for manufacturing a three-dimensional object layer by layer, comprising the steps of: (1) according to a thin-wall threshold value and the gap width of the contour of each layer of cross-section in an X and/or Y direction of a three-dimensional object to be manufactured, dividing a spread layer area to be scanned into a thin-wall area and a non-thin-wall area; and (2) according to the thin-wall area and the non-thin-wall thin wall area, conducting area-specific scans, selecting a first photon beam power or a first particle beam power and a first spot diameter size when the non-thin wall area is scanned, and selecting a second photon beam power or a second particle beam power and a second spot diameter size when the thin wall area is scanned. The method achieves optimal balance of efficiency and accuracy in the process of layer-by-layer manufacturing of a three-dimensional object, not only ensuring the efficiency, but also ensuring the accuracy and surface quality of parts manufactured.
(FR)La présente invention concerne un procédé de balayage permettant de fabriquer couche par couche un objet tridimensionnel, comprenant les étapes consistant à : (1) en fonction d'une valeur de seuil d'une paroi mince et de la largeur de l'interstice du contour de chaque couche d'une section d'un objet tridimensionnel devant être fabriqué dans la/les directions X et/ou Y, diviser une région de revêtement devant être balayée en une région de paroi mince et une région de paroi non mince ; et (2) conformément à la région de paroi mince et à la région de paroi non mince, réaliser un balayage de partitionnement, sélectionner une première puissance de faisceau de photons ou une première puissance de faisceau de particules et une première taille du diamètre de point lumineux lorsque la région de paroi non mince est balayée, et sélectionner une seconde puissance de faisceau de photons ou une seconde puissance de faisceau de particules et une seconde taille du diamètre de point lumineux lorsque la région de paroi mince est balayée. Le procédé remédie au mieux au problème de limitation de l'efficacité et de la précision du processus de fabrication couche par couche d'un objet tridimensionnel, cela garantissant non seulement une bonne efficacité, mais également la précision du traitement des pièces et la qualité de surface.
(ZH)一种用于逐层制造三维物体的扫描方法,步骤为:(1)根据薄壁阈值以及待制造的三维物体的每层截面在X和/或Y方向上轮廓的间隙宽度,将需要扫描的涂层区域分为薄壁区与非薄壁区;(2)根据薄壁区和非薄壁区,进行分区扫描;当扫描非薄壁区时,选择第一光子射束功率或第一粒子射束功率和第一光斑直径尺寸;当扫描薄壁区时,选择第二光子射束功率或第二粒子射束功率和第二光斑直径尺寸。本方法在最大程度上均衡了逐层制造三维物体过程中所面临的效率和精度的制约问题,既保证了效率,也保证了加工零件的精度和表面质量。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)