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1. (WO2015096433) APPAREIL ET PROCÉDÉ D'EXTENSION DE LA LARGEUR DE BANDE D'ÉCHANTILLONNAGE D'UN CONVERTISSEUR ANALOGIQUE/NUMÉRIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/096433    N° de la demande internationale :    PCT/CN2014/080770
Date de publication : 02.07.2015 Date de dépôt international : 25.06.2014
CIB :
H03M 1/12 (2006.01)
Déposants : ZTE CORPORATION [CN/CN]; ZTE Plaza, Keji Road South, Hi-Tech Industrial Park, Nanshan Shenzhen, Guangdong 518057 (CN)
Inventeurs : LAN, Aohua; (CN).
TIAN, Jianwei; (CN).
WANG, Shan; (CN)
Mandataire : CHINA PAT INTELLECTUAL PROPERTY OFFICE; 2nd Floor, Zhongguancun Intellectual Property Building, Block B, No.21 Haidian South Road, Haidian Beijing 100080 (CN)
Données relatives à la priorité :
201310739224.X 27.12.2013 CN
Titre (EN) APPARATUS AND METHOD FOR EXPANDING ADC SAMPLING BANDWIDTH
(FR) APPAREIL ET PROCÉDÉ D'EXTENSION DE LA LARGEUR DE BANDE D'ÉCHANTILLONNAGE D'UN CONVERTISSEUR ANALOGIQUE/NUMÉRIQUE
(ZH) 一种扩展ADC采样带宽的装置和方法
Abrégé : front page image
(EN)Disclosed is an apparatus for expanding an ADC sampling bandwidth, wherein the apparatus comprises a sampling clock circuit, a multi-channel ADC circuit and combiner circuit. The sampling clock circuit is connected to the multi-channel ADC circuit, and is configured to provide a sampling clock for the multi-channel ADC circuit. The multi-channel ADC circuit is configured to perform multi-channel sampling on an analog signal that is input under control of the sampling clock, wherein a sampling delay exists between two channels of sampling. The combiner circuit is connected to the multi-channel ADC circuit, and is configured to combine multiple channels of sampling data. Also disclosed is a method for expanding the ADC sampling bandwidth.
(FR)Cette invention concerne un appareil d'extension de la largeur de bande d'échantillonnage d'un convertisseur analogique/numérique (CAN), ledit appareil comprenant un circuit d'horloge d'échantillonnage, un circuit CAN multicanaux et un circuit multiplexeur Ledit circuit d'horloge d'échantillonnage est connecté au circuit CAN multicanaux et il est conçu pour former une horloge d'échantillonnage pour le circuit CAN multicanaux. Ledit circuit CAN multicanaux est conçu pour assurer l'échantillonnage multicanaux d'un signal analogique reçu en entrée sous le contrôle de l'horloge d'échantillonnage, un retard d'échantillonnage existant entre deux canaux d'échantillonnage. Ledit circuit multiplexeur est connecté au circuit CAN multicanaux et il est conçu pour combiner plusieurs canaux de données d'échantillonnage. L'invention concerne en outre un procédé d'extension de la largeur de bande d'échantillonnage d'un CAN.
(ZH)本发明公开了一种扩展ADC采样带宽的装置,所述装置包括采样时钟电路、多路ADC电路和合路电路;所述采样时钟电路与所述多路ADC电路连接,配置为给所述多路ADC电路提供采样时钟;所述多路ADC电路配置为在采样时钟的控制下,对输入的模拟信号进行多路采样,每路采样之间具有采样延时;所述合路电路与所述多路ADC电路连接,配置为对多路采样数据进行合并。本发明还公开了一种扩展ADC采样带宽的方法。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)