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1. WO2015079529 - PROCÉDÉ DE SPECTROMÉTRIE DE MASSE, DISPOSITIF DE SPECTROMÉTRIE DE MASSE ET PROGRAMME DE TRAITEMENT DE DONNÉES DE SPECTROMÉTRIE DE MASSE

Numéro de publication WO/2015/079529
Date de publication 04.06.2015
N° de la demande internationale PCT/JP2013/082007
Date du dépôt international 28.11.2013
CIB
G01N 27/62 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
27Recherche ou analyse des matériaux par l'emploi de moyens électriques, électrochimiques ou magnétiques
62en recherchant l'ionisation des gaz; en recherchant les décharges électriques, p.ex. l'émission cathodique
CPC
G01N 30/7266
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
30Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography ; or field flow fractionation;
02Column chromatography
62Detectors specially adapted therefor
72Mass spectrometers
7233interfaced to liquid or supercritical fluid chromatograph
724Nebulising, aerosol formation or ionisation
7266by electric field, e.g. electrospray
H01J 49/0036
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
0027Methods for using particle spectrometers
0036Step by step routines describing the handling of the data generated during a measurement
H01J 49/0045
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
004Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
0045characterised by the fragmentation or other specific reaction
H01J 49/005
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
004Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
0045characterised by the fragmentation or other specific reaction
005by collision with gas, e.g. by introducing gas or by accelerating ions with an electric field
H01J 49/4215
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
26Mass spectrometers or separator tubes
34Dynamic spectrometers
42Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
4205Device types
421Mass filters, i.e. deviating unwanted ions without trapping
4215Quadrupole mass filters
Déposants
  • 株式会社島津製作所 SHIMADZU CORPORATION [JP]/[JP]
Inventeurs
  • 小林 裕子 KOBAYASHI, Yuko
  • 小倉 泰郎 OGURA, Tairo
Mandataires
  • 特許業務法人京都国際特許事務所 KYOTO INTERNATIONAL PATENT LAW OFFICE
Données relatives à la priorité
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) MASS SPECTROMETRY METHOD, MASS SPECTROMETRY DEVICE, AND MASS SPECTROMETRY DATA PROCESSING PROGRAM
(FR) PROCÉDÉ DE SPECTROMÉTRIE DE MASSE, DISPOSITIF DE SPECTROMÉTRIE DE MASSE ET PROGRAMME DE TRAITEMENT DE DONNÉES DE SPECTROMÉTRIE DE MASSE
(JA) 質量分析方法、質量分析装置、及び質量分析データ処理プログラム
Abrégé
(EN)
This mass spectrometry method uses a mass spectrometry device (2) having mass separation units (231, 234) in front of and behind a collision cell (232) interposed therebetween, the collision cell (232) for splitting ions. A technique for selecting product ions that correspond to precursor ions by performing a product ion scan for precursor ions which are set for a sample, wherein an exclusion range of mass-to-charge ratios is set on the basis of information relating to non-selected ions inputted by a user, and product ions satisfying a predetermined reference are selected within a range of mass-to-charge ratios outside the exclusion range from the product ion spectrum. Through this mass spectrometry method, product ions can be selected which are suitable for measurement of a target compound.
(FR)
La présente invention concerne un procédé de spectrométrie de masse faisant appel à un dispositif de spectrométrie de masse (2) doté d'unités de séparation de masse (231, 234) se trouvant devant et derrière une cellule de collision (232) intercalées entre elles, la cellule de collision (232) servant à fragmenter les ions. L'invention concerne également une technique de sélection d'ions produits qui correspondent à des ions précurseurs par la mise en œuvre d'un balayage des ions produits pour les ions précurseurs qui sont établis pour un échantillon, une plage d'exclusion de rapports masse/charge est établie sur la base d'informations concernant des ions non sélectionnés entrées par un utilisateur, et les ions produits satisfaisant une référence prédéterminée sont sélectionnés dans une plage de rapports masse/charge se trouvant hors de la plage d'exclusion à partir du spectre des ions produits. Grâce à ce procédé de spectrométrie de masse, on peut sélectionner des ions produits appropriés pour mesurer un composé cible.
(JA)
本発明の質量分析方法は、イオンを開裂させるコリジョンセル(232)を挟んで前後に質量分離部(231)(234)を有する質量分析装置(2)を用いる。試料に対して設定されたプリカーサイオンについてプロダクトイオンスキャンを行うことによって該プリカーサイオンに対応するプロダクトイオンを選出する際に、使用者により入力される非選出イオンに関する情報に基づいて質量電荷比の除外範囲を設定し、プロダクトイオンスペクトルの中から、前記除外範囲を除いた質量電荷比の範囲内で、予め決められた基準を満たすプロダクトイオンを選出する。本発明の質量分析方法によると、目的化合物の測定に適したプロダクトイオンを選出することができる。
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