(EN) This mass spectrometry method uses a mass spectrometry device (2) having mass separation units (231, 234) in front of and behind a collision cell (232) interposed therebetween, the collision cell (232) for splitting ions. A technique for selecting product ions that correspond to precursor ions by performing a product ion scan for precursor ions which are set for a sample, wherein an exclusion range of mass-to-charge ratios is set on the basis of information relating to non-selected ions inputted by a user, and product ions satisfying a predetermined reference are selected within a range of mass-to-charge ratios outside the exclusion range from the product ion spectrum. Through this mass spectrometry method, product ions can be selected which are suitable for measurement of a target compound.
(FR) La présente invention concerne un procédé de spectrométrie de masse faisant appel à un dispositif de spectrométrie de masse (2) doté d'unités de séparation de masse (231, 234) se trouvant devant et derrière une cellule de collision (232) intercalées entre elles, la cellule de collision (232) servant à fragmenter les ions. L'invention concerne également une technique de sélection d'ions produits qui correspondent à des ions précurseurs par la mise en œuvre d'un balayage des ions produits pour les ions précurseurs qui sont établis pour un échantillon, une plage d'exclusion de rapports masse/charge est établie sur la base d'informations concernant des ions non sélectionnés entrées par un utilisateur, et les ions produits satisfaisant une référence prédéterminée sont sélectionnés dans une plage de rapports masse/charge se trouvant hors de la plage d'exclusion à partir du spectre des ions produits. Grâce à ce procédé de spectrométrie de masse, on peut sélectionner des ions produits appropriés pour mesurer un composé cible.
(JA) 本発明の質量分析方法は、イオンを開裂させるコリジョンセル（２３２）を挟んで前後に質量分離部（２３１）（２３４）を有する質量分析装置（２）を用いる。試料に対して設定されたプリカーサイオンについてプロダクトイオンスキャンを行うことによって該プリカーサイオンに対応するプロダクトイオンを選出する際に、使用者により入力される非選出イオンに関する情報に基づいて質量電荷比の除外範囲を設定し、プロダクトイオンスペクトルの中から、前記除外範囲を除いた質量電荷比の範囲内で、予め決められた基準を満たすプロダクトイオンを選出する。本発明の質量分析方法によると、目的化合物の測定に適したプロダクトイオンを選出することができる。