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1. (WO2014174806) PROCÉDÉ DE FABRICATION D'UN APPAREIL D'AFFICHAGE EL
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/174806    N° de la demande internationale :    PCT/JP2014/002160
Date de publication : 30.10.2014 Date de dépôt international : 16.04.2014
CIB :
G09G 3/30 (2006.01), G09F 9/00 (2006.01), G09F 9/30 (2006.01), G09G 3/20 (2006.01), H01L 27/32 (2006.01), H01L 51/50 (2006.01), H05B 33/10 (2006.01), H05B 33/12 (2006.01)
Déposants : JOLED INC. [JP/JP]; 23, Kandanishiki-cho 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1010054 (JP)
Inventeurs : SUGIYAMA, Kazushi; .
FUKUSHIMA, Miki; .
IMAI, Yuki; .
NEGORO, Yasunori;
Mandataire : YOSHIKAWA, Shuichi; c/o NII Patent Firm, 6F, Tanaka Ito Pia Shin-Osaka Bldg., 3-10, Nishi Nakajima 5-chome, Yodogawa-ku, Osaka-city, Osaka 5320011 (JP)
Données relatives à la priorité :
2013-089025 22.04.2013 JP
Titre (EN) METHOD FOR MANUFACTURING EL DISPLAY APPARATUS
(FR) PROCÉDÉ DE FABRICATION D'UN APPAREIL D'AFFICHAGE EL
(JA) EL表示装置の製造方法
Abrégé : front page image
(EN)Disclosed is a method for manufacturing an EL display apparatus that is provided with: a light emitting section having a plurality of pixels aligned and disposed therein; and a thin film transistor array apparatus that controls light emission of the light emitting section. The method has a luminance measuring step for measuring luminance of each of the pixels by having the light emitting section emit light. The luminance measuring step has: a first luminance measuring step for acquiring luminance data by measuring light emission of each of the pixels by means of a first image pickup apparatus that has resolution corresponding to the resolution of the pixels of the light emitting section; and a second luminance measuring step for correcting, after the first luminance measuring step, luminance data by measuring the light emission of the pixels by means of a second image pickup apparatus having lower resolution than the first image pickup apparatus.
(FR)L'invention concerne un procédé de fabrication d'un appareil d'affichage EL qui comprend : une section d'émission de lumière ayant une pluralité de pixels alignés et disposés à l'intérieur; et un appareil de réseau de transistors à film mince qui commande une émission de lumière de la section d'émission de lumière. Le procédé comporte une étape de mesure de luminosité permettant de mesurer la luminosité de chacun des pixels en ayant la lumière d'émission de section d'émission de lumière. L'étape de mesure de luminosité comporte : une première étape de mesure de luminosité permettant d'acquérir des données de luminosité en mesurant une émission de lumière de chacun des pixels au moyen d'un premier appareil de prise d'image qui a une résolution correspondant à la résolution des pixels de la section d'émission de lumière; et une deuxième étape de mesure de luminosité permettant de corriger, après la première étape de mesure de luminosité, des données de luminosité en mesurant l'émission lumineuse des pixels au moyen d'un deuxième appareil de prise d'image ayant une résolution inférieure à celle du premier appareil de prise d'image.
(JA)複数個の画素を配列して配置した発光部と、発光部の発光を制御する薄膜トランジスタアレイ装置とを備えたEL表示装置の製造方法であって、発光部を発光させて各画素の輝度を測定する輝度測定工程を有し、輝度測定工程は、発光部の画素の解像度に対応する解像度を有する第1の撮像装置により各画素の発光を測定して輝度データを取得する第1の輝度測定工程と、第1の輝度測定工程の後、第1の撮像装置より低い解像度を有する第2の撮像装置により複数の画素の発光を測定して輝度データの補正を行う第2の輝度測定工程とを有している。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)