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1. (WO2014171390) SYSTÈME D'ANALYSE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/171390    N° de la demande internationale :    PCT/JP2014/060397
Date de publication : 23.10.2014 Date de dépôt international : 10.04.2014
CIB :
G01N 27/62 (2006.01)
Déposants : HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 24-14, Nishi Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717 (JP)
Inventeurs : SATAKE Hiroyuki; (JP).
HASHIMOTO Yuichiro; (JP).
SUGA Masao; (JP).
HASEGAWA Hideki; (JP)
Mandataire : HIRAKI Yusuke; Atago Green Hills MORI Tower 32F, 5-1, Atago 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1056232 (JP)
Données relatives à la priorité :
2013-084950 15.04.2013 JP
Titre (EN) ANALYSIS SYSTEM
(FR) SYSTÈME D'ANALYSE
(JA) 分析システム
Abrégé : front page image
(EN)An analysis system is provided with a memory unit that stores first information in which mass analysis result information is associated with analysis conditions for ion mobility separation and a control unit that sets the analysis conditions for an ion under measurement to first analysis conditions associated with the mass analysis result information of the first information corresponding to the mass analysis result information of the ion under measurement.
(FR)L'invention concerne un système d'analyse comportant une unité de mémoire qui stocke des premières informations dans lesquelles des informations de résultat d'analyse de masse sont associées à des conditions d'analyse pour une séparation par mobilité ionique et une unité de commande qui définit les conditions d'analyse pour un ion en cours de mesure sur des premières conditions d'analyse associées aux informations de résultat d'analyse de masse des premières informations correspondant aux informations de résultat d'analyse de masse de l'ion en cours de mesure.
(JA) 分析システムは、質量分析結果情報とイオン移動度分離に関する分析条件とが関連付けられている第1の情報を格納する記憶部と、ある測定対象イオンの質量分析結果情報に対応する前記第1の情報の前記質量分析結果情報に関連付けられた前記分析条件を、前記測定対象イオンの第1の分析条件として決定する制御部と、を備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)