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1. (WO2014171256) DISPOSITIF DE MESURE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/171256    N° de la demande internationale :    PCT/JP2014/057701
Date de publication : 23.10.2014 Date de dépôt international : 20.03.2014
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    04.09.2014    
CIB :
G01B 11/24 (2006.01), G02B 5/30 (2006.01)
Déposants : NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION KYOTO INSTITUTE OF TECHNOLOGY [JP/JP]; 1, Matsugasaki Hashikami-cho, Sakyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6068585 (JP)
Inventeurs : AWATSUJI,Yasuhiro; (JP).
XIA, Peng; (JP)
Mandataire : SAEGUSA & PARTNERS; Kitahama TNK Building, 1-7-1, Doshomachi, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5410045 (JP)
Données relatives à la priorité :
2013-085624 16.04.2013 JP
Titre (EN) MEASUREMENT DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE
(JA) 計測装置
Abrégé : front page image
(EN)A complex-amplitude-information measurement device (10) according to the present invention is provided with: a group of pixels configured such that the optical distances of object light from a measurement object (100) thereto are mutually different; a camera (15) provided with an imaging element which acquires intensity information related to the measurement object by imaging, on one occasion, object light that has passed through or been reflected by the group of pixels; and a computer (16) which obtains, from the intensity information, phase information related to the measurement object (100).
(FR)La présente invention concerne un dispositif de mesure d'informations d'amplitude complexe (10) comportant : un groupe de pixels configuré de telle sorte que les distances optiques d'une lumière objet entre un objet de mesure (100) et le groupe sont réciproquement différentes ; une caméra (15) pourvue d'un élément d'imagerie qui recueille des informations d'intensité se rapportant à l'objet mesure en reflétant, à une reprise, la lumière objet qui a traversé, ou a été réfléchie par, le groupe de pixels ; et un ordinateur (16) qui obtient, à partir des informations d'intensité, des informations de phase se rapportant à l'objet de mesure (100).
(JA) 本発明に係る複素振幅情報計測装置(10)は、計測対象(100)からの物体光の光学的距離を互いに異ならせる画素群と、前記画素群を通過あるいは反射した物体光を一度に撮影することによって前記計測対象の強度情報を取得する撮像素子を搭載するカメラ(15)と、前記強度情報から計測対象(100)の位相情報を求めるコンピュータ(16)と、を備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)