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1. (WO2014170154) PROCÉDÉ DE CARACTÉRISATION D'UNE SOURCE DE LUMIÈRE ET DISPOSITIF MOBILE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/170154    N° de la demande internationale :    PCT/EP2014/056902
Date de publication : 23.10.2014 Date de dépôt international : 07.04.2014
CIB :
H05B 33/08 (2006.01)
Déposants : KONINKLIJKE PHILIPS N.V. [NL/NL]; High Tech Campus 5 NL-5656 AE Eindhoven (NL) (AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BH, BJ, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CL, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GT, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IR, IS, IT, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, ME, MG, MK, ML, MN, MR, MT, MW, MX, MY, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, ST, SV, SY, SZ, TD, TG, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW only).
PHILIPS GMBH [DE/DE]; Lübeckertordamm 5 20099 Hamburg (DE) (DE only)
Inventeurs : NOLAN, Julian Charles; (NL).
VAN EEUWIJK, Alexandre Henricus Waltherus; (NL).
VANDEN WYNGAERT, Hilbrand; (NL).
PELZER, Heiko; (NL)
Mandataire : VAN EEUWIJK, Alexander Henricus Walterus; High Tech Campus Building 5 NL-5656 AE Eindhoven (NL)
Données relatives à la priorité :
13163673.0 15.04.2013 EP
Titre (EN) A METHOD OF CHARACTERIZING A LIGHT SOURCE AND A MOBILE DEVICE
(FR) PROCÉDÉ DE CARACTÉRISATION D'UNE SOURCE DE LUMIÈRE ET DISPOSITIF MOBILE
Abrégé : front page image
(EN)A method of and a device for characterizing a light source and a method of selecting a replacement light source are provided. The method obtains (102) a first image of a light source in operation, obtains (106) a second image of the illuminated environment, and obtains (104, 108) first camera settings and second camera settings of the optical system and image processing system of the respective first and second camera at the respective moments in time that the first image and the second image was obtained. The first image, the second image, and the first and second camera settings are analyzed (110) to estimate characteristics of the light source. The characteristics of the light source may be used to propose a replacement light source and characteristics of the proposed replacement light source may be used to simulate the effect of the replacement light source on the illuminated environment.
(FR)L'invention porte sur un procédé et sur un dispositif pour caractériser une source de lumière et sur un procédé de sélection d'une source de lumière de remplacement. Le procédé obtient (102) une première image d'une source de lumière lors du fonctionnement, obtient (106) une seconde image de l'environnement éclairé, et obtient (104, 108) des premiers réglages de caméra et des seconds réglages de caméra du système optique et du système de traitement d'image des première et seconde caméras respectives aux moments respectifs dans le temps où la première image et la seconde image ont été obtenues. La première image, la seconde image et les premiers et seconds réglages de caméra sont analysés (110) pour estimer des caractéristiques de la source de lumière. Les caractéristiques de la source de lumière peuvent être utilisées pour proposer une source de lumière de remplacement, et les caractéristiques de la source de lumière de remplacement proposée peuvent être utilisées pour simuler l'effet de la source de lumière de remplacement sur l'environnement éclairé.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)