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1. (WO2014169516) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/169516    N° de la demande internationale :    PCT/CN2013/077418
Date de publication : 23.10.2014 Date de dépôt international : 18.06.2013
CIB :
G09G 3/00 (2006.01)
Déposants : HEFEI BOE OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; No.2177 Tonglingbei Road Hefei, Anhui 230012 (CN).
BOE TECHNOLOGY GROUP CO., LTD. [CN/CN]; No.10 Jiuxianqiao Rd., Chaoyang District Beijing 100015 (CN)
Inventeurs : JING, Yangkun; (CN)
Mandataire : LIU, SHEN & ASSOCIATES; 10th Floor, Building 1, 10 Caihefang Road, Haidian District Beijing 100080 (CN)
Données relatives à la priorité :
201310133877.3 17.04.2013 CN
Titre (EN) DETECTION DEVICE AND DETECTION METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION
(ZH) 一种检测装置及检测方法
Abrégé : front page image
(EN)A detection device and a detection method. The detection device comprises: an image collection module for collecting image information about a liquid crystal panel to be detected; and an image processing module which is signal connected to the image collection module, wherein the image processing module compares the received image information with a defect database to determine the defect level of the liquid crystal panel to be detected. By means of the present invention, the defect recognition rate and detection efficiency of the liquid crystal panel can be improved.
(FR)La présente invention concerne un dispositif et un procédé de détection. Le dispositif de détection comprend : un module de collecte d'image destiné à collecter des informations d'image concernant un panneau à cristaux liquides à détecter ; et un module de traitement d'image qui présente une connexion de signal avec le module de collecte d'image, le module de traitement d'image comparant les informations d'image reçues avec une base de données de défaut pour déterminer le niveau de défaut du panneau à cristaux liquides à détecter. La présente invention permet d'améliorer le taux de reconnaissance de défaut et l'efficacité de détection du panneau à cristaux liquides.
(ZH)一种检测装置及检测方法,其中,检测装置包括:采集待测液晶面板图像信息的图像采集模块;和与图像采集模块信号连接的图像处理模块,图像处理模块将接收到的图像信息与缺陷数据库进行对比,判定待测液晶面板的缺陷等级。利用本发明,可以提高了液晶面板的缺陷识别率和检测效率。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)