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1. (WO2014169197) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS POUR MICROSCOPIE AVEC CONTRASTE DE PHASE À SUPER-RÉSOLUTION ET ÉCLAIRAGE STRUCTURÉ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/169197    N° de la demande internationale :    PCT/US2014/033776
Date de publication : 16.10.2014 Date de dépôt international : 11.04.2014
CIB :
G02B 21/00 (2006.01)
Déposants : DUKE UNIVERSITY [US/US]; 2812 Erwin Road Suite 306 Durham, NC 27705 (US)
Inventeurs : IZATT, Joseph, A.; (US).
CHOWDHURY, Shwetadwip; (US)
Mandataire : OLIVE, Bentley, J.; Olive Law Group, PLLC 125 Edinburgh South Drive Suite 220 Cary, NC 27511 (US)
Données relatives à la priorité :
61/935,499 04.02.2014 US
61/811,665 12.04.2013 US
Titre (EN) SYSTEMS AND METHODS FOR STRUCTURED ILLUMINATION SUPER-RESOLUTION PHASE MICROSCOPY
(FR) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS POUR MICROSCOPIE AVEC CONTRASTE DE PHASE À SUPER-RÉSOLUTION ET ÉCLAIRAGE STRUCTURÉ
Abrégé : front page image
(EN)Systems and methods for structured illumination super-resolution phase microscopy are disclosed. According to an aspect, an imaging system includes a light source configured to generate light. The system also includes a diffraction grating positioned to receive and diffract the output light. The system also includes a sample holder positioned to receive the diffracted light for transmission through a sample. Further, the system includes an image detector positioned to receive the light transmitted through the sample and configured to generate image data based on the received light. The system also includes a computing device configured to apply subdiffraction resolution reconstruction to the image data for generating an image of the sample.
(FR)La présente invention porte sur des systèmes et sur des procédés pour une microscopie avec contraste de phase à super-résolution et éclairage structuré. Selon un aspect, un système d'imagerie comprend une source lumineuse configurée pour générer une lumière. Le système comprend également un réseau de diffraction positionné pour recevoir et diffracter la lumière de sortie. Le système comprend également un organe de maintien d'échantillon positionné pour recevoir la lumière diffractée pour une émission à travers un échantillon. En outre, le système comprend un détecteur d'image positionné pour recevoir la lumière émise à travers l'échantillon et configuré pour générer des données d'image sur la base de la lumière reçue. Le système comprend également un dispositif informatique configuré pour appliquer une reconstruction de résolution de sous-diffraction aux données d'image afin de générer une image de l'échantillon.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)