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1. (WO2014168694) SYSTÈME DE TEST D'ENSEMBLES ÉLECTRONIQUES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/168694    N° de la demande internationale :    PCT/US2014/019832
Date de publication : 16.10.2014 Date de dépôt international : 03.03.2014
CIB :
G01R 31/28 (2006.01)
Déposants : TERADYNE, INC. [US/US]; 600 Riverpark Drive North Reading, Massachusetts 01864 (US)
Inventeurs : ARENA, John Joseph; (US).
SUTO, Anthony J.; (US)
Mandataire : PYSHER, Paul A.; Fish & Richardson P.C. P.O. Box 1022 Minneapolis, Massachusetts 55440-1022 (US)
Données relatives à la priorité :
13/860,423 10.04.2013 US
Titre (EN) ELECTRONIC ASSEMBLY TEST SYSTEM
(FR) SYSTÈME DE TEST D'ENSEMBLES ÉLECTRONIQUES
Abrégé : front page image
(EN)An example system for testing electronic assemblies (EAs) may include carriers for holding EAs and slots for testing at least some of the EAs in parallel. Each slot may be configured to receive a corresponding carrier containing an EA and to test the EA. An example carrier in the system may include a first part and a second part. At least one of the first part and the second part include a first structure, and the first structure is movable to enable electrical connection between an EA and an electrical connector.
(FR)Dans une forme de réalisation donnée à titre d'exemple, l'invention concerne un système permettant de tester des ensembles électroniques et qui comprend des supports pour retenir des ensembles électroniques et des fentes pour tester au moins certains des ensembles électroniques en parallèle. Chaque fente est conçue pour recevoir un support correspondant contenant un ensemble électronique et tester celui-ci. Un support du système, donné à titre d'exemple, comprend une première partie et une seconde partie. La première partie et/ou la seconde partie comprend/comprennent une première structure, la première structure pouvant être déplacée pour permettre une connexion électrique entre un ensemble électronique et un connecteur électrique.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)