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1. (WO2014168295) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE TEST DE PERTE D'ÉNERGIE POUR DISPOSITIF DE MÉMOIRE NON VOLATILE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/168295    N° de la demande internationale :    PCT/KR2013/006612
Date de publication : 16.10.2014 Date de dépôt international : 24.07.2013
CIB :
G11C 29/00 (2006.01)
Déposants : ELIXIR FLASH TECHNOLOGY CO., LTD. [KR/KR]; 707-ho 28, Hwangsaeul-ro 200beon-gil, Bundang-gu Seongnam-si Gyeonggi-do 436-825 (KR)
Inventeurs : LEE, Sung-woo; (KR)
Mandataire : PARK, Young-woo; 5F, Seil Building 414, Nonhyeon-ro Gangnam-gu Seoul 135-080 (KR)
Données relatives à la priorité :
10-2013-0038226 08.04.2013 KR
Titre (EN) POWER LOSS TEST DEVICE AND METHOD FOR NONVOLATILE MEMORY DEVICE
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE TEST DE PERTE D'ÉNERGIE POUR DISPOSITIF DE MÉMOIRE NON VOLATILE
(KO) 비휘발성 메모리 장치의 파워 로스 테스트 기기 및 방법
Abrégé : front page image
(EN)A power loss test device for a nonvolatile memory device comprises: a test-board unit including at least one socket for inserting at least one nonvolatile memory device, which is to be tested, therein; a microcontroller unit for determining supply or interruption of power necessary for an operation of the nonvolatile memory device on the basis of information on current consumption or information on an operation state of the nonvolatile memory device; and a tester unit for testing power loss in the nonvolatile memory device on the basis of the supply or interruption of the power.
(FR)L'invention porte sur un dispositif de test de perte d'énergie pour dispositif de mémoire non volatile qui comprend : une unité de carte de test comprenant au moins une prise pour introduire au moins un dispositif de mémoire non volatile, qui doit être testé, dedans ; une unité de microcontrôleur pour déterminer la fourniture ou l'interruption de courant nécessaire pour un fonctionnement du dispositif de mémoire non volatile sur la base d'informations sur une consommation de courant ou d'informations sur un état de fonctionnement du dispositif de mémoire non volatile ; et une unité de testeur pour tester une perte d'énergie dans le dispositif de mémoire non volatile sur la base de la fourniture ou de l'interruption du courant.
(KO)비휘발성 메모리 장치의 파워 로스 테스트 기기는 테스트 대상에 해당하는 적어도 하나 이상의 비휘발성 메모리 장치를 삽입하기 위한 적어도 하나 이상의 소켓을 구비하는 테스트보드부, 비휘발성 메모리 장치 내부의 소비 전류 정보 또는 동작 상태 정보에 기초하여 비휘발성 메모리 장치의 동작에 필요한 전원의 공급과 차단을 결정하는 마이크로컨트롤러부, 및 전원의 공급과 차단에 기초하여 비휘발성 메모리 장치에 대한 파워 로스 테스트를 수행하는 테스터부를 포함한다.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)