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1. (WO2014167698) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF D'EXAMEN PAR ULTRASONS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/167698    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/061006
Date de publication : 16.10.2014 Date de dépôt international : 12.04.2013
CIB :
G01N 29/44 (2006.01)
Déposants : HITACHI, LTD. [JP/JP]; 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280 (JP)
Inventeurs : MIZOTA Hirohisa; (JP).
NAGASHIMA Yoshiaki; (JP).
NAKAHATA Kazuyuki; (JP)
Mandataire : INOUE Manabu; c/o HITACHI, LTD., 6-1, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008220 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) ULTRASOUND EXAMINATION METHOD AND DEVICE
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF D'EXAMEN PAR ULTRASONS
(JA) 超音波検査方法および装置
Abrégé : front page image
(EN)The purpose of the present invention is to provide an ultrasound examination method and device that enable a defect position to be detected with high accuracy and the examination time to be shortened, even with a material that is heterogeneous and has acoustic anisotropy. In order to achieve such purpose, this ultrasound examination method is characterized by being provided with the following: a step for creating a first flaw detection image from recorded ultrasonic waveforms; a step for creating a reverse propagation analysis model that includes load conditions determined from the recorded ultrasonic waveforms; and a step for creating a second flaw detection image from the results of carrying out reverse propagation analysis on the reverse propagation analysis model. The following may be additionally provided: a step for detecting a significant reflection signal from the first flaw detection image; a step for carrying out forward propagation analysis for determining the propagation times from the significant reflection signal to each ultrasound transmission position; a step for determining, from the propagation time, delay time information at each ultrasound transmission position; and a step for creating a reverse propagation analysis model to which the delay time was imparted.
(FR)L'invention concerne un procédé et un dispositif d'examen par ultrasons qui permettent de détecter une position de défaut avec une grande précision et de raccourcir la durée de l'examen, même avec un matériau qui est hétérogène et présente une anisotropie acoustique. Afin d'atteindre un tel objectif, ce procédé d'examen par ultrasons est caractérisé en ce qu'il comporte les étapes suivantes : la création d'une première image de détection de défaut à partir de formes d'onde ultrasonores enregistrées ; la création d'un modèle d'analyse de propagation inverse qui comprend des conditions de charge déterminées à partir des formes d'onde ultrasonores enregistrées ; la création d'une seconde image de détection de défaut à partir des résultats d'exécution d'une analyse de propagation inverse sur le modèle d'analyse de propagation inverse. Les étapes suivantes peuvent également être prévues : la détection d'un signal de réflexion significatif à partir de la première image de détection de défaut ; l'exécution de l'analyse de propagation avant pour déterminer les temps de propagation à partir du signal de réflexion significatif pour chaque position de transmission d'ultrasons ; la détermination, à partir du temps de propagation, des informations de temps de retard au niveau de chaque position de transmission d'ultrasons ; la création d'un modèle d'analyse de propagation inverse pour lequel le temps de retard a été communiqué.
(JA) 非均質で音響異方性を有する材料においても、欠陥位置を高精度に、かつ、検査時間を短縮することが可能な超音波検査方法および装置を提供することにある。このような課題を解決するために本発明の超音波検査方法は、収録した超音波波形から第一の探傷画像を作成するステップと、収録した超音波波形から求めた荷重条件を含む逆伝搬解析モデルを作成するステップと、前記逆伝搬解析モデル上で逆伝搬解析を実施した結果から第二の探傷画像を作成するステップと、を有することを特徴とする超音波検査方法である。なお、前記第一の探傷画像から有意な反射信号を検出するステップと、前記有意な反射信号から各超音波送信位置までのそれぞれの伝搬時間を求める順伝搬解析を実施するステップと、前記伝搬時間より各超音波送信位置における遅延時間情報を求めるステップと、前記遅延時間を付与した逆伝搬解析モデルを作成するステップを更に有しても良い。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)