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1. (WO2014166232) MÉTHODE ET APPAREIL DE PRÉVISION DE DURÉE DE VIE DE DISPOSITIF
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/166232    N° de la demande internationale :    PCT/CN2013/085999
Date de publication : 16.10.2014 Date de dépôt international : 25.10.2013
CIB :
G06F 19/00 (2011.01)
Déposants : HUAWEI TECHNOLOGIES CO., LTD. [CN/CN]; Huawei Administration Building Bantian, Longgang District Shenzhen, Guangdong 518129 (CN)
Inventeurs : JIN, Hongbo; (CN).
HE, Xiuqiang; (CN).
HU, Nan; (CN)
Mandataire : BEIJING ZBSD PATENT & TRADEMARK AGENT LTD.; 501/B,Fortune Building No.17 Daliushu Road, Haidian District Beijing 100081 (CN)
Données relatives à la priorité :
201310124910.6 11.04.2013 CN
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR PREDICTING SERVICE LIFE OF DEVICE
(FR) MÉTHODE ET APPAREIL DE PRÉVISION DE DURÉE DE VIE DE DISPOSITIF
(ZH) 一种预测设备器件寿命的方法及装置
Abrégé : front page image
(EN)Disclosed are a method and apparatus for predicting the service life of a device, which relate to the technical field of detection, and improve the accuracy rate of predicting the service life of a device in the process of predicting the service life of the device. The specific implementation of the present invention comprises: obtaining a service life value of a device already used through an acquired value of an influence factor which influences the service life of the device; and acquiring a sample device through the service life value and a set predetermined service life threshold value, and then determining a prediction model for predicting the service life of the device according to the sample device. The technical solution of the present invention is mainly applied to the flow of predicting the service life of a device.
(FR)L'invention concerne une méthode et un appareil de prévision de la durée de vie d'un dispositif, qui se rapporte au domaine technique de la détection, et améliore le taux de précision de la prévision de la durée de vie d'un dispositif dans le processus de prévision de la durée de vie du dispositif. La mise en œuvre spécifique de la présente invention comprend les étapes suivantes : obtenir une valeur de durée de vie d'un dispositif déjà utilisé par l'intermédiaire d'une valeur acquise d'un facteur d'influence qui influence la durée de vie du dispositif ; et acquérir un dispositif échantillon par l'intermédiaire de la valeur de durée de vie et une valeur seuil de durée de vie prédéterminée définie, puis déterminer un modèle de prévision permettant de prévoir la durée de vie du dispositif en fonction du dispositif échantillon. La solution technique de la présente invention est appliquée principalement au flux de travail de prévision de la durée de vie d'un dispositif.
(ZH)本发明公开了一种预测设备器件寿命的方法及装置,涉及检测技术领域,在预测设备器件寿命的过程中,提高了设备器件寿命预测的准确率。本发明的具体实施包括:通过获取到的影响设备器件寿命的影响因素的数值得到已使用的设备器件的寿命值,并通过该寿命值以及设置的预定寿命阈值获取到样本器件,进而根据该样本器件确定用于预测设备器件寿命的预测模型。本发明技术方案主要应用于设备器件寿命预测的流程中。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)