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1. (WO2014165568) DÉBRIS MAGNÉTIQUES ET DÉTECTEUR DE PARTICULES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/165568    N° de la demande internationale :    PCT/US2014/032629
Date de publication : 09.10.2014 Date de dépôt international : 02.04.2014
CIB :
E21B 12/02 (2006.01), G01B 7/00 (2006.01)
Déposants : BAKER HUGHES INCORPORATED [US/US]; P.O. Box 4740 Houston, TX 77210-4740 (US)
Inventeurs : KRUSPE, Thomas; (DE)
Données relatives à la priorité :
13/855,406 02.04.2013 US
Titre (EN) MAGNETIC DEBRIS AND PARTICLE DETECTOR
(FR) DÉBRIS MAGNÉTIQUES ET DÉTECTEUR DE PARTICULES
Abrégé : front page image
(EN)A system, method and apparatus for determining wear on a component of a tool is disclosed. An oscillating member receives a particle freed from the component as a result of the wear on the component. A measuring device measures a change in a parameter of the oscillating member resulting from receiving the particle. A processor determines the wear on the component from the change in the parameter. In one embodiment, the component may include a component of a downhole tool.
(FR)L'invention concerne un système, un procédé et un appareil pour déterminer l'usure sur un composant d'un outil. Un élément oscillant reçoit une particule libérée du composant du fait de l'usure dudit composant. Un dispositif de mesure mesure le changement d'un paramètre de l'élément oscillant résultant de la réception de la particule. Un processeur détermine l'usure du composant à partir du changement de paramètre. Dans un mode de réalisation, le composant peut inclure un composant d'un outil de forage.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)