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1. (WO2014160618) TECHNIQUE LADA PULSÉE POUR ACQUISITION SIMULTANÉE DE CHRONOGRAMMES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/160618    N° de la demande internationale :    PCT/US2014/031523
Date de publication : 02.10.2014 Date de dépôt international : 21.03.2014
CIB :
G01N 21/63 (2006.01), G01R 31/26 (2014.01)
Déposants : DCG SYSTEMS, INC. [US/US]; 3400 W. Warren Ave Fremont, CA 94538 (US).
FREESCALE SEMICONDUCTOR, INC. [US/US]; 6501 William Cannon Drive West Austin, TX 78735 (US).
SERRELS, Keith [GB/US]; (US).
VEDAGARBHA, Praveen [US/US]; (US).
LUNDQUIST, Ted [US/US]; (US).
ERINGTON, Kent [US/US]; (US).
BODOH, Dan [US/US]; (US)
Inventeurs : SERRELS, Keith; (US).
VEDAGARBHA, Praveen; (US).
LUNDQUIST, Ted; (US).
ERINGTON, Kent; (US).
BODOH, Dan; (US)
Mandataire : BACH, Joseph; Nixon Peabody LLP P.O. Box 60610 Palo Alto, CA 94306 (US)
Données relatives à la priorité :
61/806,803 29.03.2013 US
61/838,679 24.06.2013 US
61/804,696 24.03.2013 US
Titre (EN) PULSED LADA FOR ACQUISITION OF TIMING DIAGRAMS
(FR) TECHNIQUE LADA PULSÉE POUR ACQUISITION SIMULTANÉE DE CHRONOGRAMMES
Abrégé : front page image
(EN)Method to extract timing diagrams from synchronized single- or two-photon pulsed LADA by spatially positioning the incident laser beam on circuit feature of interest, temporally scanning the arrival time of the laser pulse with respect to the tester clock or the loop length trigger signal, then recording the magnitude and sign of the resulting fail rate signature per laser pulse arrival time. A Single-Photon Laser- Assisted Device Alteration apparatus applies picosecond laser pulses of wavelength having photon energy equal to or greater than the silicon band-gap. A Two-Photon Laser-Assisted Device Alteration apparatus applies femtosecond laser pulses of wavelength having photon energy equal to or greater than half the silicon band-gap at the area of interest. The laser pulses are synchronized with test vectors so that pass/fail ratios can be altered using either the single-photon or the two-photon absorption effect. A sequence of synthetic images with error data illustrates timing sensitive locations.
(FR)L'invention porte sur un procédé d'extraction de chronogrammes à partir d'une technique de modification de dispositif assistée par laser (LADA) pulsée à un seul ou à deux photons synchronisés par positionnement spatial du faisceau laser incident sur un élément de circuit d'intérêt, balayage temporel de l'instant d'arrivée de l'impulsion laser par rapport à l'horloge de testeur ou au signal déclencheur de longueur de boucle, puis enregistrement de l'amplitude et du signe de la signature de taux d'échec par instant d'arrivée d'impulsion laser résultante. Un appareil de modification de dispositif assistée par laser (LADA) à un seul photon applique des impulsions laser picosecondes de longueur d'onde ayant une énergie photonique supérieure ou égale à la bande interdite du silicium. Un appareil de modification de dispositif assistée par laser (LADA) à deux photons applique des impulsions laser femtosecondes de longueur d'onde ayant une énergie photonique supérieure ou égale à la moitié de la bande interdite du silicium au niveau de la zone d'intérêt. Les impulsions laser sont synchronisées avec des vecteurs de test de telle sorte que des rapports réussite/échec peuvent être modifiés à l'aide de l'effet d'absorption soit d'un seul photon soit de deux photons. Une séquence d'images synthétiques avec données d'erreur illustre des emplacements sensibles au positionnement temporel.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)