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1. (WO2014156900) MICROSCOPE À LAMPE À FENTE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/156900    N° de la demande internationale :    PCT/JP2014/057593
Date de publication : 02.10.2014 Date de dépôt international : 19.03.2014
CIB :
A61B 3/12 (2006.01)
Déposants : KABUSHIKI KAISHA TOPCON [JP/JP]; 75-1, Hasunuma-cho, Itabashi-ku, Tokyo 1748580 (JP)
Inventeurs : SATO,Toshiaki; (JP).
TAKEDA,Takanori; (JP).
WATANABE,Takahiro; (JP)
Mandataire : MISAWA PATENT OFFICE, P.C.; Nippan Bldg., 15-8, Nishishinjuku 7-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1600023 (JP)
Données relatives à la priorité :
2013-069567 28.03.2013 JP
Titre (EN) SLIT LAMP MICROSCOPE
(FR) MICROSCOPE À LAMPE À FENTE
(JA) スリットランプ顕微鏡
Abrégé : front page image
(EN)Provided is a slit lamp microscope whereby a coordinated control of a projection state of a slit light and a projection state of a background illumination light is possible. A slit lamp microscope according to an embodiment comprises a primary illumination assembly, a background illumination assembly, an observation assembly, and a control assembly. The primary illumination assembly further comprises a first light source unit which outputs a first light, and a slit forming part which forms a variable-width slit, and illuminates a subject eye with the first light which passes through the slit. The background illumination assembly further comprises a second light source unit which outputs a second light, and illuminates, with the second light, a peripheral region of the projection region of the first light with respect to the subject eye. The observation assembly further comprises an eyepiece, an image capture device, and an optical element group which guides reflected light of the first light and reflected light of the second light from the subject eye to the eyepiece and the image capture device. The control unit controls the primary illumination assembly and the second light source unit in coordination.
(FR)L'invention concerne un microscope à lampe à fente, au moyen duquel une commande coordonnée d'un état de projection d'une lumière à fente et d'un état de projection d'une lumière de rétroéclairage est possible. Un microscope à lampe à fente selon un mode de réalisation comprend un ensemble d'éclairage primaire, un ensemble de rétroéclairage, un ensemble d'observation et un ensemble de commande. L'ensemble d'éclairage primaire comprend en outre une première unité de source de lumière qui délivre une première lumière, et une partie de formation de fente qui forme une fente à largeur variable, et éclaire un œil de sujet avec la première lumière qui traverse la fente. L'ensemble de rétroéclairage comprend en outre une seconde unité de source de lumière qui délivre une seconde lumière, et éclaire, avec la seconde lumière, une région périphérique de la région de projection de la première lumière par rapport à l'œil de sujet. L'ensemble d'observation comprend en outre un oculaire, un dispositif de capture d'image et un groupe d'éléments optiques qui guide la lumière réfléchie de la première lumière et la lumière réfléchie de la seconde lumière de l'œil de sujet vers l'oculaire et le dispositif de capture d'image. L'unité de commande commande l'ensemble d'éclairage primaire et la seconde unité de source de lumière en coordination.
(JA) スリット光の照射状態と背景照明光の照射状態とを連係制御することが可能なスリットランプ顕微鏡を提供する。実施形態に係るスリットランプ顕微鏡は、主照明系と、背景照明系と、観察系と、制御部とを有する。主照明系は、第1の光を出力する第1の光源部と、幅が可変なスリットを形成するスリット形成部とを含み、スリットを通過した第1の光で被検眼を照明する。背景照明系は、第2の光を出力する第2の光源部を含み、被検眼に対する第1の光の照射領域の周囲の領域を第2の光で照明する。観察系は、接眼レンズと、撮像装置と、被検眼による第1の光の反射光および第2の光の反射光を接眼レンズおよび撮像装置に導く光学素子群とを含む。制御部は、主照明系と第2の光源部とを連係制御する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)