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1. (WO2014156436) DISPOSITIF ET SYSTÈME DE MESURE DE DÉPLACEMENT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/156436    N° de la demande internationale :    PCT/JP2014/054536
Date de publication : 02.10.2014 Date de dépôt international : 25.02.2014
CIB :
G01S 17/36 (2006.01), G01C 3/06 (2006.01), G01C 7/04 (2006.01), G01S 17/89 (2006.01)
Déposants : HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 24-14, Nishi-Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717 (JP)
Inventeurs : YOSHITAKE, Yasuhiro; (JP).
SASAZAWA, Hideaki; (JP).
SAITO, Yoshihiro; (JP).
HARIYAMA, Tatsuo; (JP).
WATANABE, Masahiro; (JP)
Mandataire : TSUTSUI, Yamato; Tsutsui & Associates, 3F, Shinjuku Gyoen Bldg., 3-10, Shinjuku 2-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1600022 (JP)
Données relatives à la priorité :
2013-072053 29.03.2013 JP
Titre (EN) DISPLACEMENT MEASUREMENT DEVICE AND DISPLACEMENT MEASUREMENT SYSTEM
(FR) DISPOSITIF ET SYSTÈME DE MESURE DE DÉPLACEMENT
(JA) 変位計測装置及び変位計測システム
Abrégé : front page image
(EN)A displacement measurement device capable of enhancing precision for measuring distance and displacement is provided. A displacement measurement device (100) has: an intensity modulation unit (10) for generating a periodic signal; a light source (2) for outputting light on the basis of the periodic signal; an optical amplifier (20) for amplifying light from the light source (2); an optical system (3) for irradiating light from the optical amplifier (20) to a surface (5) of an object to be measured, and receiving the reflected light as incident light; a measurement-light detection unit (61) for detecting reflected light from the surface (5) of the object to be measured as measurement light; a phase comparison unit (70) for comparing the phase of the signal of the measurement light and the phase of the signal of a reference light; and a displacement calculation unit (80) for calculating the distance to the surface (5) of the object to be measured and the displacement thereof on the basis of the result of the phase comparison.
(FR)L'invention concerne un dispositif de mesure de déplacement, capable d'améliorer la précision de mesure de distance et de déplacement. Un dispositif (100) de mesure de déplacement comporte : une unité (10) de modulation d'intensité afin de créer un signal périodique; une source lumineuse (2) afin d'émettre de la lumière sur la base du signal périodique; un amplificateur optique (20) afin d'amplifier la lumière provenant de la source lumineuse (2); un système optique (3) afin d'illuminer la surface (5) d'un objet à mesurer avec la lumière provenant de l'amplificateur optique (20) et recevoir la lumière réfléchie en tant que lumière incidente; une unité de détection (61) de mesure de lumière afin de détecter en tant que lumière de mesure la lumière réfléchie provenant de la surface (5) de l'objet à mesurer; une unité (70) de comparaison de phase afin de comparer la phase du signal de la lumière de mesure et la phase du signal d'une lumière de référence; et une unité (80) de calcul de déplacement afin de calculer la distance jusqu'à la surface (5) de l'objet à mesurer et le déplacement de celui-ci sur la base du résultat de la comparaison de phase.
(JA) 変位計測装置に関して、距離及び変位の計測の精度を向上できる技術を提供する。変位計測装置100は、周期信号を発生する強度変調部10と、周期信号に基づき光を出力する光源2と、光源2からの光を増幅する光アンプ20と、光アンプ20からの光を計測対象面5に対して照射しその反射光を入射する光学系3と、計測対象面5からの反射光を計測光として検出する計測光検出部61と、計測光の信号の位相と参照光の信号の位相とを比較する位相比較部70と、位相の比較の結果に基づいて計測対象面5までの距離及びその変位を算出する変位算出部80とを有する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)