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1. (WO2014155596) DISPOSITIF DE COMMANDE DE MÉCANISME
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/155596    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/059221
Date de publication : 02.10.2014 Date de dépôt international : 28.03.2013
CIB :
G05B 23/02 (2006.01), G05B 13/04 (2006.01)
Déposants : HITACHI, LTD. [JP/JP]; 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280 (JP)
Inventeurs : OGAWA Hironori; (JP).
INOUE Tomohiro; (JP).
ODAI Masaki; (JP).
TAKAHIRA Isao; (JP).
FUNATSU Terunobu; (JP).
SAEGUSA Takashi; (JP).
ITO Kiyoto; (JP).
TAKAGI Toyokazu; (JP).
TAKANO Erii; (JP)
Mandataire : POLAIRE I.P.C.; 7-1, Hatchobori 2-chome, Chuo-ku, Tokyo 1040032 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) MECHANISM CONTROL DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE COMMANDE DE MÉCANISME
(JA) 機構制御装置
Abrégé : front page image
(EN)Provided is a mechanistic model capable of diagnosing the status of elements possessed by a device for which precise positioning is required, and capable of diagnosing whether maintenance is required for these elements. Also provided is a mechanism control device using this mechanistic model. The mechanism control device, which positions an operation subject with high precision, and controls a control subject device configured from multiple elements, is equipped with: a model generation unit that generates a control subject model that simulates the control subject device, which is controlled in accordance with prescribed commands; an error detection unit that detects error between the control subject model and the control subject device; a model update unit that revises parameters for constructing the control subject model in accordance with the degree of error, thereby updating the control subject model generated by the model generation unit; a change determination unit that outputs status information indicating the degree to which a deviation value for the revised parameters has changed with respect to a threshold value; and control unit that displays the status information on a display device.
(FR)L'invention concerne un modèle mécaniste pouvant diagnostiquer l'état d'éléments compris dans un dispositif pour lesquels un positionnement précis est requis, et pouvant diagnostiquer si une maintenance est requise pour ces éléments. L'invention concerne aussi un dispositif de commande de mécanisme utilisant ce modèle mécaniste. Le dispositif de commande de mécanisme, lequel positionne un sujet d'opération avec une haute précision et commande un dispositif commandé constitué de plusieurs éléments, est équipé de : une unité de génération de modèle qui génère un modèle commandé qui simule le dispositif commandé, lequel est commandé en fonction d'instructions précises ; une unité de détection d'erreurs qui détecte l'erreur entre le modèle commandé et le dispositif commandé ; une unité d'actualisation de modèle qui révise des paramètres permettant de construire le modèle commandé en fonction du degré d'erreur, actualisant ainsi le modèle commandé généré par l'unité de génération de modèle ; une unité de détermination de changement qui transmet des informations d'état indiquant le degré auquel une valeur de déviation pour les paramètres révisés a changé par rapport à une valeur de seuil ; et une unité de commande qui affiche les informations d'état sur un dispositif d'affichage.
(JA) 精密な位置決めが要求される装置が有する要素についての状態やメンテナンスの要否の診断が可能な機構モデルおよびそれを用いた機構制御装置を提供する。操作対象物に対して高精度にその位置決めをし、複数の要素から構成される制御対象装置を制御する機構制御装置であって、所定の指令に従って制御される制御対象装置を模擬する制御対象モデルを生成するモデル生成部と、制御対象モデルと制御対象装置との誤差を検出する誤差検出部と、誤差の程度に応じて制御対象モデルを構成するためのパラメータを修正し、モデル生成部が生成した制御対象モデルを更新するモデル更新部と、修正されたパラメータの変動値が所定の閾値に対してどの程度変化しているかを示す状態情報を出力する変化判別部と、状態情報を表示装置に表示させる制御部と、を備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)