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1. (WO2014155050) PROCÉDÉ ET APPAREIL POUR TESTER DES SYSTÈMES ÉLECTRONIQUES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/155050    N° de la demande internationale :    PCT/GB2014/000128
Date de publication : 02.10.2014 Date de dépôt international : 28.03.2014
CIB :
G06F 11/36 (2006.01), G06F 7/58 (2006.01)
Déposants : RANDOMIZE LIMITED [GB/GB]; The Mansion Bletchley Park Milton Keynes, MK3 6EB (GB)
Inventeurs : HALL, Giles, Thomas; (GB)
Mandataire : BERESFORD, Keith, Denis, Lewis; Beresford & Co 16 High Holborn London WC1V 6BX (GB)
Données relatives à la priorité :
1305851.6 28.03.2013 GB
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR TESTING ELECTRONIC SYSTEMS
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL POUR TESTER DES SYSTÈMES ÉLECTRONIQUES
Abrégé : front page image
(EN)A verification apparatus and method are disclosed for testing a device or system which is operable in a number of states through which it can transition in a multiplicity of different sequences. The method and apparatus disclosed include a set of functional modules which correspond to the states of the device or system under test and which may be activated in a large number of pseudorandom sequences. Each time a module of the verification apparatus is activated it causes the device or system under test to transition to the corresponding state. Thus, when the functional modules of the verification apparatus are activated in a given sequence, the corresponding states of the device or system under test are called in the same sequence.
(FR)La présente invention concerne un appareil et un procédé permettant de tester un dispositif ou un système qui est utilisable dans un certain nombre d'états par le biais desquels il peut effectuer une transition dans une multitude de séquences différentes. Le procédé et l'appareil selon l'invention comprennent un ensemble de modules fonctionnels qui correspondent aux états du dispositif ou du système sous test et qui peuvent être activés dans un grand nombre de séquences pseudo aléatoires. Chaque fois qu'un module de l'appareil de vérification est activé, il provoque une transition du dispositif ou du système sous test à l'état correspondant. De cette façon, les modules fonctionnels de l'appareil de vérification sont activés dans une séquence donnée, les états correspondants du dispositif ou du système sous test étant appelés dans la même séquence.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)