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1. (WO2014100136) DISPOSITIF D'AUTOTEST INTÉGRÉ (BIST) PROGRAMMABLE DANS UN CONTRÔLEUR DE MÉMOIRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/100136    N° de la demande internationale :    PCT/US2013/076042
Date de publication : 26.06.2014 Date de dépôt international : 18.12.2013
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    20.10.2014    
CIB :
G11C 29/12 (2006.01)
Déposants : QUALCOMM INCORPORATED [US/US]; Attn: International IP Administration 5775 Morehouse Drive San Diego, California 92121 (US)
Inventeurs : KANG, Woo Tag; (US).
AVERBUJ, Roberto F.; (US).
SHAH, Manish; (US)
Mandataire : TALPALATSKY, Sam; 5775 Morehouse Drive San Diego, California 92121 (US)
Données relatives à la priorité :
13/718,014 18.12.2012 US
Titre (EN) PROGRAMMABLE BUILT-IN-SELF TESTER (BIST) IN MEMORY CONTROLLER
(FR) DISPOSITIF D'AUTOTEST INTÉGRÉ (BIST) PROGRAMMABLE DANS UN CONTRÔLEUR DE MÉMOIRE
Abrégé : front page image
(EN)Some novel features pertain to a memory controller that includes a memory controller logic, a built-in-self-tester (BIST) logic, and a switch. The memory controller logic is for controlling memory on a memory die. The built-in-self tester (BIST) logic is for testing the memory. The switch is coupled to the BIST logic and the memory. In some implementations, the BIST logic bypasses the memory controller logic when testing the memory by accessing the memory through the switch. The switch may be controlled by the BIST logic. In some implementations, the switch is coupled to the memory controller logic. The switch may control data to the memory that is transmitted from the memory controller logic and the BIST logic based on priority of the data.
(FR)Certaines nouvelles fonctionnalités de l'invention portent sur un contrôleur de mémoire qui comprend une logique de contrôleur de mémoire, une logique de dispositif d'autotest intégré (BIST) et un commutateur. La logique de contrôleur de mémoire sert à commander une mémoire sur une puce de mémoire. La logique de dispositif d'autotest intégré (BIST) sert à essayer la mémoire. Le commutateur est couplé à la logique BIST et à la mémoire. Selon certaines mises en œuvre, la logique BIST contourne la logique de contrôleur de mémoire lors du test de la mémoire par accès à la mémoire par le commutateur. Le commutateur peut être commandé par la logique BIST. Selon certaines mises en œuvre, le commutateur est couplé à la logique de contrôleur de mémoire. Le commutateur peut commander des données sur la mémoire qui sont transmises par la logique de contrôleur de mémoire et la logique BIST sur la base d'une priorité des données.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)