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1. (WO2014099065) GÉNÉRATION DE RAPPORT DE VRAISEMBLANCE LOGARITHMIQUE ET DE RAPPORT DE VRAISEMBLANCE LOGARITHMIQUE LOCALISÉ POUR DES SYSTÈMES DE STOCKAGE DE DONNÉES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/099065    N° de la demande internationale :    PCT/US2013/061492
Date de publication : 26.06.2014 Date de dépôt international : 24.09.2013
CIB :
G11C 16/34 (2006.01), G11C 29/42 (2006.01)
Déposants : WESTERN DIGITAL TECHNOLOGIES, INC. [US/US]; 3355 Michelson Drive Suite 100 Irvine, CA 92612 (US)
Inventeurs : SUN, Yongke; (US).
ZHAO, Dengtao; (US).
YANG, Jui-yao; (US)
Mandataire : ALTMAN, Daniel, E.; Knobbe Martens Olson & Bear, LLP 2040 Main Street 14th Floor Irvine, CA 92612 (US)
Données relatives à la priorité :
13/720,591 19.12.2012 US
Titre (EN) LOG-LIKELIHOOD RATIO AND LUMPED LOG-LIKELIHOOD RATIO GENERATION FOR DATA STORAGE SYSTEMS
(FR) GÉNÉRATION DE RAPPORT DE VRAISEMBLANCE LOGARITHMIQUE ET DE RAPPORT DE VRAISEMBLANCE LOGARITHMIQUE LOCALISÉ POUR DES SYSTÈMES DE STOCKAGE DE DONNÉES
Abrégé : front page image
(EN)An error management system for a data storage device can generate soft- decision log-likelihood ratios (LLRs) for upper and lower pages of memory ceils in MLC solid-state media. Disclosed are systems and methods for generating iumped-LLR for upper pages, wherein at least some voltage threshold reads are linked together in order to reduce the number of reads. Efficiency and reliability are thereby improved.
(FR)L'invention concerne un système de gestion d'erreurs pour un dispositif de stockage de données, ledit système permettant de générer des rapports de vraisemblance logarithmique (LLR) à décision souple pour des pages supérieures et inférieures de cellules mémoire dans des supports à semi-conducteurs MLC. L'invention concerne des systèmes et des procédés permettant de générer un LLR localisé pour des pages supérieures, au moins certaines lectures de seuils de tension étant reliées entre elles pour réduire le nombre de lectures. L'efficacité et la fiabilité sont donc améliorées.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)