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1. (WO2014098838) MÉTHODE ET APPAREIL D'OPTIMISATION DE MESURES DE RÉSISTIVITÉ EN PROFONDEUR AVEC DES ANTENNES À COMPOSANTS MULTIPLES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/098838    N° de la demande internationale :    PCT/US2012/070584
Date de publication : 26.06.2014 Date de dépôt international : 19.12.2012
CIB :
G01V 3/28 (2006.01), G01V 3/38 (2006.01), G01V 11/00 (2006.01)
Déposants : HALLIBURTON ENERGY SERVICES, INC. [US/US]; 10200 Bellaire Boulevard Houston, TX 77072 (US)
Inventeurs : WU, Hsu-Hsiang; (US).
DONDERICI, Burkay; (US).
GUNER, Baris; (US)
Mandataire : PICKETT, Scott; Baker Botts LLP 910 Louisiana Street Houston, TX 77002 (US)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR OPTIMIZING DEEP RESISTIVITY MEASUREMENTS WITH MULTI-COMPONENT ANTENNAS
(FR) MÉTHODE ET APPAREIL D'OPTIMISATION DE MESURES DE RÉSISTIVITÉ EN PROFONDEUR AVEC DES ANTENNES À COMPOSANTS MULTIPLES
Abrégé : front page image
(EN)According to aspects of the present disclosure, systems and methods for optimizing deep resistivity measurements are described herein. The method may include obtaining one or more first multi-component measurements from a downhole tool disposed in a borehole. The downhole tool may comprise multi-component antennae. A relative structural dip angle, Φ, of the downhole tool relative to formations may be determined, for example, through the use of an additional downhole tool, or computationally using the one or more first multi- component measurements. A tilt angle of at least one of the multi-component antenna may be adjusted, with the adjusted tilt angle being based on the dip angle. The method may further include obtaining one or more second multi-component measurements associated with the adjusted tilt angle, and determining a formation characteristic based, at least in part, on the one or more second multi-component measurements, without including or considering formation anisotropy effects.
(FR)Des aspects de la présente invention concernent des systèmes et des méthodes d'optimisation de mesure de résistivité en profondeur. La méthode peut consister à obtenir une ou plusieurs premières mesures à composants multiples grâce à un outil de fond de trou situé dans un trou de forage. L'outil de fond de trou peut comporter des antennes à composants multiples. Un angle de pendage structurel relatif, Φ, de l'outil de fond de trou par rapport aux formations peut être déterminé, par exemple, grâce à l'utilisation d'un outil de fond de trou supplémentaire, ou informatiquement en utilisant la ou les premières mesures à composants multiples. Un angle d'inclinaison d'au moins une des antennes à composants multiples peut être ajusté, l'angle d'inclinaison ajusté dépendant de l'angle de pendage. La méthode peut aussi consister à obtenir une ou plusieurs deuxièmes mesures à composants multiples associées à l'angle d'inclinaison ajusté, et à déterminer une caractéristique de formation en fonction, au moins en partie, de la ou des deuxièmes mesures à composants multiples, sans inclure ou prendre en compte des effets d'anisotropie de formation.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)