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1. (WO2014098345) APPAREIL ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE FISSURES DANS LA PIÈCE DE CONTACT D’UN DISPOSITIF ÉLECTRONIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/098345    N° de la demande internationale :    PCT/KR2013/007354
Date de publication : 26.06.2014 Date de dépôt international : 14.08.2013
CIB :
H05K 13/08 (2006.01), H05K 3/34 (2006.01), H01L 21/66 (2006.01)
Déposants : ONTEST CO., LTD. [KR/KR]; (Iui-dong) #417, #418, 4th Floor, 105, Gwanggyo-ro, Yeongtong-gu Suwon-si Gyeonggi-do 443-270 (KR)
Inventeurs : JIN, Byoung Jin; (KR).
JUNG, Seung Bae; (KR).
SEO, Seung Woo; (KR)
Mandataire : JEON, Jong Hag; #2009, 20th floor, Sungji 3rd Bldg, 642-6, Yeoksam 1-Dong Gangnam-Gu Seoul 135-717 (KR)
Données relatives à la priorité :
10-2012-0149102 20.12.2012 KR
Titre (EN) APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING CRACKS IN CONTACT PART OF ELECTRONIC DEVICE
(FR) APPAREIL ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE FISSURES DANS LA PIÈCE DE CONTACT D’UN DISPOSITIF ÉLECTRONIQUE
(KO) 전자기기의 접촉부 균열 검출 장치 및 방법
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to an apparatus and method for detecting cracks in the contact part of an electronic device. More particularly, the apparatus and method perform repetitive pattern filtering by providing vibrations having a frequency and waveform in preset effective ranges to a connection part and measuring a resistance value. Through said filtering, patterns of the measured resistance values and values of the vibrations are analyzed, and the analyzed results in correspondence to crack-related information are outputted. Accordingly, a detection assessment function for a faulty state of the contact part can be enhanced. In addition, assessment accuracy of the degree of cracking can be enhanced by performing repetitive pattern filtering using a lock-in algorithm and outputting accurate patterns distinguished differently from each other according to the cracked state of the connection part.
(FR)L’invention porte sur un appareil et un procédé de détection de fissures dans la pièce de contact d’un dispositif électronique. Plus particulièrement, l’appareil et le procédé selon l’invention réalisent un filtrage de modèles répétitifs en appliquant à une pièce de liaison des vibrations d’une fréquence et d’une forme d’onde données dans des intervalles efficaces prédéfinis et en mesurant une valeur de résistance. Le filtrage donne lieu à une analyse de modèles des valeurs de résistance mesurées et de valeurs des vibrations. Les résultats analysés alors obtenus correspondent à des informations relatives à des fissures. L’invention permet donc d’améliorer une fonction d’évaluation de détection pour un état défectueux de la pièce de contact. L’invention permet en outre d’améliorer la précision d’évaluation du degré de fissuration grâce à un filtrage de modèles répétitifs au moyen d’un algorithme de verrouillage et à la génération de modèles précis qui se distinguent en fonction de l’état de fissuration de la pièce de liaison.
(KO)본 발명은 전자기기의 접촉부 균열 검출 장치 및 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 연결 부위에 기 설정된 유효 범위 내 주파수 및 파형을 포함하는 진동을 제공하고 저항값을 측정하여 반복적 패턴 필터링을 수행함으로써 이를 통해 탐지된 저항값과 진동 값의 패턴을 분석하여 균열 관련 정보에 대응시켜 출력하도록 하여 접촉부의 불량 상태의 검출 변별력을 매우 향상시키고, 락 인 알고리즘(Lock-in Algorithm)을 이용하여 반복적 패턴 필터링을 수행함으로써 연결 부위의 균열 상태에 따라 서로 상이하게 구분되는 정확한 패턴으로 출력하도록 하여 연결 부위의 균열 정도의 분별 정확도를 매우 향상시키는 등의 효과가 있다.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)