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1. (WO2014097996) DISPOSITIF D'OBSERVATION VISUELLE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/097996    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/083510
Date de publication : 26.06.2014 Date de dépôt international : 13.12.2013
CIB :
G02B 21/00 (2006.01), G02B 3/08 (2006.01), G02B 5/18 (2006.01)
Déposants : HAMAMATSU PHOTONICS K.K. [JP/JP]; 1126-1, Ichino-cho, Higashi-ku, Hamamatsu-shi, Shizuoka 4358558 (JP)
Inventeurs : TAKIGUCHI Yuu; (JP)
Mandataire : HASEGAWA Yoshiki; SOEI PATENT AND LAW FIRM, Marunouchi MY PLAZA (Meiji Yasuda Life Bldg.) 9th fl., 1-1, Marunouchi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1000005 (JP)
Données relatives à la priorité :
2012-278184 20.12.2012 JP
Titre (EN) OPTICAL OBSERVATION DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'OBSERVATION VISUELLE
(JA) 光観察装置
Abrégé : front page image
(EN)An optical observation device (1A) is provided with: a spatial optical modulator (20) that displays a Fresnel kinoform on a phase modulation surface (20a), modulates the phase of light (L1), and irradiates an object (B) to be observed with a modulated light (L2); an imaging optical system (15) that images light (L3) to be observed from the object (B) to be observed; an optical system moving mechanism (16) that moves the imaging optical system (15) in the direction of the optical axis of the light (L3) to be observed; and a control unit (19) that controls the optical system moving mechanism (16) such that the focal position of the imaging optical system (15) changes in correspondence with changes in the focal position of the modulated light (L2) because of the Fresnel kinoform. Thus, an optical observation device that can easily obtain an observation light image for an irradiated site even when the focal position of the modulated light changes in the direction of the optical axis is achieved.
(FR)La présente invention concerne un dispositif d'observation visuelle (1A) qui est équipé : d'un modulateur optique spatial (20) qui affiche une kinoforme de Fresnel sur une surface à modulation de phase (20a), qui module la phase de la lumière (L1), et qui irradie un objet (B) devant être observé avec une lumière modulée (L2) ; d'un système optique d'imagerie (15) qui image la lumière (L3) devant être observée à partir de l'objet (B) devant être observé ; d'un mécanisme de déplacement de système optique (16) qui déplace le système optique d'imagerie (15) dans la direction de l'axe optique de la lumière (L3) devant être observée ; et d'une unité de commande (19) qui commande le mécanisme de déplacement de système optique (16) de sorte que la position focale du système optique d'imagerie (15) change en correspondance avec les changements de la position focale de la lumière modulée (L2) en raison de la kinoforme de Fresnel. Ainsi, il est possible de fournir un dispositif d'observation visuelle qui peut facilement obtenir une image de lumière d'observation pour un site irradié y compris lorsque la position focale de la lumière modulée change dans la direction de l'axe optique.
(JA) 光観察装置1Aは、フレネル型キノフォームを位相変調面20aに表示し、光L1の位相を変調して観察対象物Bに変調光L2を照射する空間光変調器20と、観察対象物Bからの被観察光L3を撮像する撮像光学系15と、被観察光L3の光軸方向に撮像光学系15を移動させる光学系移動機構16と、フレネル型キノフォームによる変調光L2の集光位置の変化に対応して撮像光学系15の焦点位置が変化するように光学系移動機構16を制御する制御部19とを備える。これにより、変調光の集光位置を光軸方向に変化させた場合であっても、照射部位の観察光像を容易に得ることができる光観察装置が実現される。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)