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1. (WO2014097886) DISPOSITIF OPTIQUE ET APPAREIL D'ANALYSE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/097886    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/082578
Date de publication : 26.06.2014 Date de dépôt international : 04.12.2013
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    23.06.2014    
CIB :
G01N 21/65 (2006.01), G01N 21/64 (2006.01)
Déposants : WASEDA UNIVERSITY [JP/JP]; 104 Totsukamachi 1-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1698050 (JP)
Inventeurs : HOMMA Takayuki; (JP).
YANAGISAWA Masahiro; (JP).
SAITO Mikiko; (JP)
Mandataire : YOSHIDA Tadanori; 304 La Tour Shinjuku, 15-1, Nishi-shinjuku 6-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1600023 (JP)
Données relatives à la priorité :
2012-275793 18.12.2012 JP
Titre (EN) OPTICAL DEVICE AND ANALYSIS APPARATUS
(FR) DISPOSITIF OPTIQUE ET APPAREIL D'ANALYSE
(JA) 光学デバイスおよび分析装置
Abrégé : front page image
(EN)Proposed are an optical device and an analysis apparatus which are capable of reliably enhancing Raman scattered light from a sample by a surface plasmon and improving the sensitivity of surface enhanced Raman scattered light compared to conventional ones. In this optical device (5), a surface plasmon (P) can be excited on the proximity surface in proximity to a sample (S) of a metallic nanoparticle (9) by forming a flat surface in the metallic nanoparticle (9), thereby making it possible to reliably enhance Raman scattered light from the sample (S) by the surface plasmon (P) and improve the sensitivity of surface enhanced Raman scattered light (L3) compared to conventional ones. Further, the molecular structure in the depth direction (z) of the sample (S) can be measured with high depth resolution by providing the focus of excitation light (L1) in the vicinity of an interface between the metallic nanoparticle (9) and the sample (S) by an objective lens (4).
(FR)Cette invention concerne un dispositif optique et un appareil d'analyse qui sont capables d'exalter de manière fiable la lumière diffusée par effet Raman à partir d'un échantillon par un plasmon de surface et d'améliorer la sensibilité de ladite lumière exaltée de surface diffusée par effet Raman, comparée à celle de dispositifs classiques. Dans le dispositif optique (5) selon l'invention, un plasmon de surface (P) peut être excité sur une surface de proximité proche de l'échantillon (S) constitué par une nanoparticule métallique (9) par formation d'une surface plane dans la nanoparticule métallique (9), permettant ainsi d'exalter de manière fiable la lumière diffusée par effet Raman à partir de l'échantillon par un plasmon de surface et d'améliorer la sensibilité de ladite lumière exaltée de surface diffusée par effet Raman, comparée à celle de dispositifs classiques. De plus, la structure moléculaire dans le sens de la profondeur (z) de l'échantillon (S) peut être mesurée à une résolution de profondeur élevée par focalisation de la lumière d'excitation (L1) au voisinage d'une interface entre la nanoparticule métallique (9) et l'échantillon (S) par un objectif (4).
(JA) 試料からのラマン散乱光を表面プラズモンにより確実に増強し得、従来よりも表面増強ラマン散乱光の感度を向上し得る光学デバイスおよび分析装置を提案する。本発明の光学デバイス(5)では、金属ナノ粒子(9)に平坦面を形成したことにより、金属ナノ粒子(9)の試料(S)に近接した近接面に表面プラズモン(P)を励起させることができ、かくして試料(S)からのラマン散乱光を表面プラズモン(P)により確実に増強し得、従来よりも表面増強ラマン散乱光(L3)の感度を向上し得る。また、対物レンズ(4)により、金属ナノ粒子(9)と試料(S)の界面近傍に励起光(L1)の焦点をもうけることにより、試料(S)の深さ方向(z)の分子構造を高い深さ分解能で測定することができる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)