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1. (WO2014097868) DISPOSITIF D'ESTIMATION DE PARAMÈTRES, PROCÉDÉ D'ESTIMATION DE PARAMÈTRES, SYSTÈME DE STOCKAGE D'ÉLECTRICITÉ ET PROGRAMME
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/097868    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/082348
Date de publication : 26.06.2014 Date de dépôt international : 02.12.2013
CIB :
G01R 31/36 (2006.01), H01M 10/48 (2006.01)
Déposants : MITSUBISHI HEAVY INDUSTRIES, LTD. [JP/JP]; 16-5, Konan 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1088215 (JP)
Inventeurs : WAKASUGI Kazuyuki; (JP).
MORITA Katsuaki; (JP).
OZAKI Kazuki; (JP).
SHIGEMIZU Tetsuro; (JP).
HASHIMOTO Masayuki; (JP)
Mandataire : MORI Ryuichirou; 1-9-2, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo 1006620 (JP)
Données relatives à la priorité :
2012-274750 17.12.2012 JP
Titre (EN) PARAMETER ESTIMATING DEVICE, PARAMETER ESTIMATING METHOD, ELECTRICITY STORAGE SYSTEM, AND PROGRAM
(FR) DISPOSITIF D'ESTIMATION DE PARAMÈTRES, PROCÉDÉ D'ESTIMATION DE PARAMÈTRES, SYSTÈME DE STOCKAGE D'ÉLECTRICITÉ ET PROGRAMME
(JA) パラメータ推定装置、パラメータ推定方法、蓄電システム及びプログラム
Abrégé : front page image
(EN)A parameter estimating device comprises: a state quantity measuring unit (11) to acquire measured values for state quantities having a correlation with a plurality of parameters; a state quantity calculating unit (12) to calculate and acquire calculated values corresponding to each measured value on the basis of an equation correlating estimated values for the plurality of parameters with the state quantities; and an optimal estimated value identifying unit (13) to find an error evaluation function value that is calculated on the basis of a value obtained by multiplying a first coefficient by the sum of the absolute quantities of the errors of the calculated values corresponding to the measured values, and a value obtained by multiplying a second coefficient by the degree of error variation, and to identify, while varying the estimated values, the optimal estimated value for which the error evaluation function value is the minimum.
(FR)La présente invention concerne un dispositif d'estimation de paramètres comprenant : une unité de mesure de quantités d'état (11) destinée à acquérir des valeurs mesurées de quantités d'état ayant une corrélation avec une pluralité de paramètres ; une unité de calcul de quantités d'état (12) destinée à calculer et à acquérir des valeurs calculées correspondant à chaque valeur mesurée sur la base d'une corrélation d'équation de valeurs estimées de la pluralité de paramètres avec les quantités d'état ; et une unité d'identification de valeur estimée optimale (13) destinée à trouver une valeur de fonction d'évaluation d'erreur qui est calculée sur la base d'une valeur, obtenue par multiplication d'un premier coefficient par la somme des quantités absolues des erreurs des valeurs calculées correspondant aux valeurs mesurées, et d'une valeur obtenue par multiplication d'un second coefficient par le degré de variation d'erreur, et à identifier, tout en faisant varier les valeurs estimées, la valeur estimée optimale pour laquelle la valeur de fonction d'évaluation d'erreur a la valeur minimale.
(JA)パラメータ推定装置は、複数のパラメータと相関性を有する状態量についての実測値を取得する状態量実測部(11)と、当該複数のパラメータの推定値と上記状態量との相関式に基づいて、実測値の各々と対応する演算値を演算して取得する状態量演算部(12)と、実測値に対応する演算値の誤差の絶対量の総和に第一の係数を乗じた値と、誤差のばらつき度に第二の係数を乗じた値と、に基づいて算出される誤差評価関数値を求め、上記推定値を変化させながら、誤差評価関数値が極小となる最適推定値を特定する最適推定値特定部(13)とを備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)