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1. (WO2014097362) DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEUR ET PROCÉDÉ DE COMMANDE ASSOCIÉ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/097362    N° de la demande internationale :    PCT/JP2012/008187
Date de publication : 26.06.2014 Date de dépôt international : 21.12.2012
CIB :
G06F 1/04 (2006.01), H01L 21/822 (2006.01), H01L 27/04 (2006.01)
Déposants : RENESAS ELECTRONICS CORPORATION [JP/JP]; 1753, Shimonumabe, Nakahara-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa 2118668 (JP)
Inventeurs : GOMI, Takahiko; (JP).
SUZUKI, Tetsuya; (JP)
Mandataire : IEIRI, Takeshi; HIBIKI IP Law Firm, Asahi Bldg. 10th Floor, 3-33-8, Tsuruya-cho, Kanagawa-ku, Yokohama-shi, Kanagawa 2210835 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR CONTROLLING SAME
(FR) DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEUR ET PROCÉDÉ DE COMMANDE ASSOCIÉ
(JA) 半導体装置及びその制御方法
Abrégé : front page image
(EN)According to one embodiment of the present invention, a semiconductor device (601) is provided with a calculating unit (CPU) that is provided in a semiconductor chip, and a temperature sensor (TS) that measures a temperature of the semiconductor chip. The semiconductor device compares a measured temperature (Ta) measured by means of the temperature sensor (TS) with a predetermined reference temperature (Tref), and when the measured temperature (Ta) is higher than the reference temperature (Tref), the semiconductor device switches the frequency of an operation clock to be supplied to the operating unit (CPU) from a first frequency to a second frequency that is higher than the first frequency.
(FR)Conformément à un mode de réalisation de l'invention, un dispositif à semi-conducteur (601) est pourvu d'une unité de calcul (CPU) qui est prévue dans une puce semi-conductrice, et d'un capteur de température (TS) qui mesure une température de la puce semi-conductrice. Le dispositif à semi-conducteur compare une température mesurée (Ta) au moyen du capteur de température (TS) avec une température de référence prédéterminée (Tref), et lorsque la température mesurée (Ta) est supérieure à la température de référence (Tref), le dispositif à semi-conducteur commute la fréquence d'une horloge de fonctionnement à fournir à l'unité de fonctionnement (CPU) depuis une première fréquence vers une seconde fréquence qui est supérieure à la première fréquence.
(JA) 一実施の形態に係る半導体装置(601)は、半導体チップに設けられた演算部(CPU)及び半導体チップの温度を測定する温度センサ温度センサ(TS)を備え、温度センサ温度センサ(TS)により測定された測定温度(Ta)を予め定められた基準温度(Tref)と比較し、測定温度(Ta)が基準温度(Tref)よりも高い場合、演算部(CPU)へ供給する動作クロックの周波数を第1の周波数から当該第1の周波数よりも高い第2の周波数へ切り換える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)