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1. (WO2014097026) MESURE D'ÉPAISSEUR DE SEIN EN MAMMOGRAPHIE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/097026    N° de la demande internationale :    PCT/IB2013/060491
Date de publication : 26.06.2014 Date de dépôt international : 29.11.2013
CIB :
A61B 6/04 (2006.01), A61B 6/00 (2006.01)
Déposants : KONINKLIJKE PHILIPS N.V. [NL/NL]; High Tech Campus 5 NL-5656 AE Eindhoven (NL) (AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BH, BJ, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CL, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GT, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IR, IS, IT, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, ME, MG, MK, ML, MN, MR, MT, MW, MX, MY, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, ST, SV, SY, SZ, TD, TG, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW only).
PHILIPS GMBH [DE/DE]; Lübeckertordamm 5 20099 Hamburg (DE) (DE only)
Inventeurs : GOOSSEN, André; (DE).
MAACK, Hanns-Ingo; (DE)
Mandataire : STEFFEN, Thomas; High Tech Campus Building 5 NL-5656 AE Eindhoven (NL)
Données relatives à la priorité :
61/740,585 21.12.2012 US
Titre (EN) BREAST THICKNESS MEASUREMENT IN MAMMOGRAPHY
(FR) MESURE D'ÉPAISSEUR DE SEIN EN MAMMOGRAPHIE
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to measuring breast thickness in mammography. In order to provide improved height measurements with high accuracy, a mammography imaging system (10) is provided that comprises a breast support device (12), an X-ray imaging device (14), and a processing device (16). The breast support device comprises a support surface (18) and at least one compression element (20). A distance measuring device (22) is provided to determine the current distance between the support surface and the compression element, and to provide the current distance as a first breast height. The X-ray imaging device is configured to provide spectral X-ray image data of a breast arranged between the support surface and the compression element. The processing device is configured to perform spectral material decomposition based on the spectral image data, and to calculate a second breast height. Further, the processing device is configured to compare the first breast height and the second breast height to determine and to provide a height difference value.
(FR)La présente invention concerne la mesure de l'épaisseur du sein en mammographie. Afin de produire des mesures de hauteur améliorées avec une précision élevée, un système d'imagerie mammographique (10) est décrit qui comprend un dispositif de support de sein (12), un dispositif d'imagerie à rayons X (14), et un dispositif de traitement (16). Le dispositif de support de sein comprend une surface de support (18) et au moins un élément de compression (20). Un dispositif de mesure de distance (22) est disposé pour déterminer la distance actuelle entre la surface de support et l'élément de compression, et pour fournir la distance actuelle en tant que première hauteur de sein. Le dispositif d'imagerie à rayons X est configuré pour fournir des données d'image radiographique spectrale d'un sein disposé entre la surface de support et l'élément de compression. Le dispositif de traitement est configuré pour effectuer une décomposition matérielle spectrale sur la base des données d'image spectrale, et pour calculer une deuxième hauteur de sein. En outre, le dispositif de traitement est configuré pour comparer la première hauteur de sein et la deuxième hauteur de sein afin de déterminer et de fournir une valeur de différence de hauteur.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)