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1. (WO2014095197) APPAREIL DE MESURE DE BRUIT DE PHASE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/095197    N° de la demande internationale :    PCT/EP2013/074083
Date de publication : 26.06.2014 Date de dépôt international : 18.11.2013
CIB :
G01J 9/00 (2006.01), G01J 9/02 (2006.01), H01S 3/139 (2006.01)
Déposants : BUNDESREPUBLIK DEUTSCHLAND, VERTRETEN DURCH DAS BUNDESMINISTERIUM FÜR WIRTSCHAFT UND TECHNOLOGIE [DE/DE]; Bundesallee 100 38116 Braunschweig (DE)
Inventeurs : LEGERO, Thomas; (DE).
GREBING, Christian; (DE)
Mandataire : GRAMM, LINS & PARTNER GBR; Theodor-Heuss-Straße 1 38122 Braunschweig (DE)
Données relatives à la priorité :
10 2012 024 692.7 18.12.2012 DE
Titre (DE) PHASENRAUSCH-MESSGERÄT
(EN) PHASE NOISE MEASURING DEVICE
(FR) APPAREIL DE MESURE DE BRUIT DE PHASE
Abrégé : front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Phasenrausch-Messgerät zum Messen eines Phasenrauschens von elektromagnetischer Strahlung, insbesondere von Licht, mit (a) einem Strahlungseingang (12) zum Einkoppeln eines Primärstrahls (14) kohärenter elektromagnetischer Strahlung, wobei der Primärstrahl (14) ein zu messendes Primärstrahl-Phasenrauschen aufweist, (b) einer Sekundärstrahl-Erzeugungsvorrichtung (16) zum Erzeugen eines Sekundärstrahls (18) aus dem Primärstrahl (14), wobei der Sekundärstrahl (18) ein Sekundärstrahl-Phasenrauschen aufweist, das auf eindeutige Weise von dem Primärstrahl-Phasenrauschen abhängt, (c) einer Sekundärstrahl-Stabilisierungsvorrichtung (27), die eine passive Frequenzreferenz-Verkörperung (26), die eine Frequenzreferenz verkörpert, undeine Regelvorrichtung zum Regeln einer Sekundärstrahl-Frequenz auf die Frequenzreferenzaufweist,zum Erzeugen eines stabilisierten Sekundärstrahls (18') und (d) einer Phasendifferenz-Messvorrichtung (36), die eingerichtet ist zum Messen einer Phasendifferenz zwischen Primärstrahl (14) und stabilisiertem Sekundärstrahl (18'), so dass das Primärstrahl-Phasenrauschen aus der Phasendifferenz bestimmbar ist.
(EN)The invention relates to a phase noise measuring device for measuring phase noise of electromagnetic radiation, in particular light, having (a) a radiation input (12) for injecting a primary beam (14) of coherent electromagnetic radiation, wherein the primary beam (14) has primary beam phase noise to be measured, (b) a secondary beam generation apparatus (16) for generating a secondary beam (18) from the primary beam (14), wherein the secondary beam (18) has secondary beam phase noise which clearly depends on the primary beam phase noise, (c) a secondary beam stabilization apparatus (27) which has a passive frequency reference embodiment (26) that embodies a frequency reference and a regulating apparatus for regulating a secondary beam frequency to the frequency reference and is intended to generate a stabilized secondary beam (18'), and (d) a phase difference measuring apparatus (36) which is set up to measure a phase difference between the primary beam (14) and the stabilized secondary beam (18'), with the result that the primary beam phase noise can be determined from the phase difference.
(FR)L'invention concerne un appareil de mesure du bruit de phase d'un rayonnement électromagnétique, en particulier de lumière, comprenant (a) une entrée de rayonnement (12) servant à injecter un faisceau primaire (14) de rayonnement électromagnétique cohérent, ledit faisceau primaire (14) comportant un bruit de phase de faisceau primaire à mesurer, (b) un dispositif générateur de faisceau secondaire (16) servant à générer un faisceau secondaire (18) à partir du faisceau primaire (14), ledit faisceau secondaire (18) comportant un bruit de phase de faisceau secondaire qui dépend de manière univoque du bruit de phase de faisceau primaire, (c) un dispositif stabilisateur de faisceau secondaire (27) qui comporte un système passif (26) constituant une référence de fréquence et un dispositif de réglage servant à régler une fréquence du faisceau secondaire à la référence de fréquence pour générer un faisceau secondaire stabilisé (18'), et (d) un dispositif de mesure de différence de phase (36) adapté pour mesurer une différence de phase entre le faisceau primaire (14) et le faisceau secondaire stabilisé (18') de telle façon que le bruit de phase du faisceau primaire peut être déterminé à partir de la différence de phase.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)